Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Energy dissipation in the presence of sub-harmonic excitation in dynamic atomic force microscopy

Autor
Chiesa, M.; Gadelrab, K.R.; Verdaguer, A.; Segura, J.; Barcons, V.; Thomson, N.; Phillips, M.; Stefancich, M.; Santos, S.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Europhysics letters
Data de publicació
2012-09
Volum
99
Número
5
Pàgina inicial
56002-p1
Pàgina final
56002-p6
DOI
https://doi.org/10.1209/0295-5075/99/56002 Obrir en finestra nova
Repositori
http://hdl.handle.net/2117/103298 Obrir en finestra nova
Resum
Amplitude modulation atomic force microscopy allows quantifying energy dissipation in the nanoscale with great accuracy with the use of analytical expressions that account for the fundamental frequency and higher harmonics. Here, we focus on the effects of sub-harmonic excitation on energy dissipation and its quantification. While there might be several mechanisms inducing sub-harmonics, a general analytical expression to quantify energy dissipation whenever sub-harmonics are excited is provided...
Citació
Chiesa, M., Gadelrab, K.R., Verdaguer, A., Segura, J., Barcons, V., Thomson, N., Phillips, M., Stefancich, M., Santos, S. Energy dissipation in the presence of sub-harmonic excitation in dynamic atomic force microscopy. "Europhysics letters", Setembre 2012, vol. 99, núm. 5, p. 56002-p1-56002-p6.
Paraules clau
Atomic force microscopy (AFM), Nonlinear dynamics and chaos
Grup de recerca
PERC-UPC - Centre de Recerca d'Electrònica de Potència UPC
SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control
SSR-UPC - Smart Sustainable Resources

Participants

  • Chiesa, Matteo  (autor)
  • Gadelrab, Karim Raafat  (autor)
  • Verdaguer, Albert  (autor)
  • Segura, Juan José  (autor)
  • Barcons Xixons, Victor  (autor)
  • Thomson, Neil H.  (autor)
  • Phillips, M.A.  (autor)
  • Stefancich, M.  (autor)
  • Santos Hernandez, Sergio  (autor)