Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Single cycle and transient force measurements in dynamic atomic force microscopy

Autor
Gadelrab, K.R.; Santos, S.; Font, J.; Chiesa, M.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Nanoscale
Data de publicació
2013-11-21
Volum
5
Número
22
Pàgina inicial
10776
Pàgina final
10793
DOI
https://doi.org/10.1039/c3nr03338d Obrir en finestra nova
Repositori
http://hdl.handle.net/2117/78946 Obrir en finestra nova
URL
http://pubs.rsc.org/en/Content/ArticleLanding/2013/NR/c3nr03338d#!divAbstract Obrir en finestra nova
Resum
The monitoring of the deflection of a micro-cantilever, as the end of a sharp probe mounted at its end, i.e. the tip, interacts with a surface, forms the foundation of atomic force microscopy AFM. In a nutshell, developments in the field are driven by the requirement of obtaining ever increasing throughput and sensitivity, and enhancing the versatility of the instrument to simultaneously map the topography and quantify nanoscale processes and properties. In the most common dynamic mode of operat...
Citació
Gadelrab, K.R., Santos, S., Font, J., Chiesa, M. Single cycle and transient force measurements in dynamic atomic force microscopy. "Nanoscale", 21 Novembre 2013, vol. 5, núm. 22, p. 10776-10793.
Grup de recerca
CIRCUIT - Grup de Recerca en Circuits i Sistemes de Comunicació
PERC-UPC - Centre de Recerca d'Electrònica de Potència UPC
SSR-UPC - Smart Sustainable Resources

Participants

  • Gadelrab, Karim Raafat  (autor)
  • Santos Hernandez, Sergio  (autor)
  • Font Teixido, Jose  (autor)
  • Chiesa, Matteo  (autor)

Arxius