Carregant...
Vés al contingut (premeu Retorn)
Català
Català
English
Español
Novetats
Sobre FUTUR
Preguntes freqüents
Mapa del lloc
Contacte
Identifica't
Català
Català
English
Español
FUTUR.
Portal de la Producció Científica dels Investigadors de la UPC
Navegació
Navegació
Investigadors
Tots
Investigadors
Organització
Publicacions
Accés obert
Tesis
Patents
Projectes
Spin-offs
Guia experts UPC mitjans
Investigadors
3239
Organització
297
Publicacions
219663
Accés obert
26331
Tesis
6656
Patents
1223
Projectes
13407
Spin-offs
34
Sou a:
Inici
Investigadors
A pulsed nanosecond IR laser diode system to automatically test the Single Event Effects in the laboratory
Vés al contingut (premeu Retorn)
A pulsed nanosecond IR laser diode system to automatically test the Single Event Effects in the laboratory
Autor
Alpat, B.; Battiston , R.; Bizarri, M.; Esposito, G.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, accelerators SP
Data de publicació
2002-06-06
Volum
485
Número
1-2
Pàgina inicial
183
Pàgina final
187
DOI
10.1016/S0168-9002(02)00552-1
URL
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0168900202005521
Grup de recerca
KEMLG - Grup d´Enginyeria del Coneixement i Aprenentatge Automàtic
Participants
Alpat, Behcet (autor)
Battiston, R. (autor)
Bizarri, Marco (autor)
Esposito, Gennaro (autor)
×
×
×