Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Quality metrics for mixed-signal indirect testing

Autor
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Tipus d'activitat
Presentació treball a congrés
Nom de l'edició
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Any de l'edició
2014
Data de presentació
2014-11-26
Llibre d'actes
XXIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Pàgina inicial
1
Pàgina final
6
Repositori
http://hdl.handle.net/2117/25521 Obrir en finestra nova
URL
http://www.cei.upm.es/dcis/ Obrir en finestra nova
Citació
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J. Quality metrics for mixed-signal indirect testing. A: Design of Circuits and Integrated Systems Conference. "XXIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems". Madrid: 2014, p. 1-6.
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants

Arxius