Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Test challenges in nanometric cmos technologies

Autor
Figueras, J.; Brosa, A.; Ferre, A.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronic engineering
Data de publicació
1999-11
Volum
49
Número
1-2
Pàgina inicial
119
Pàgina final
133
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants