Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Characterization of Floating Gate Defects in Analog Cells

Autor
Brosa, A.; Figueras, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Journal of electronic testing. Theory and applications
Data de publicació
1999-04
Volum
14
Número
1/2
Pàgina inicial
23
Pàgina final
31
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants