Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Built-In Current Sensor for AIDDQ Testing

Autor
Rius, J.; Pindeda, D.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEEE journal of solid-state circuits
Data de publicació
2004-03
Volum
39
Número
3
Pàgina inicial
511
Pàgina final
518
Grup de recerca
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants