Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

A High-Frequency Nonquasi-Static Analytical Model Including Gate Leakage Effects for On-Chip Decoupling Capacitors

Autor
Rius, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEEE transactions on advanced packaging
Data de publicació
2006-02
Volum
21
Número
1
Pàgina inicial
88
Pàgina final
97
Grup de recerca
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants