Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Iddq test and diagnosis of cmos circuits

Autor
Isern, E.; Figueras, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEEE design and test of computers
Data de publicació
1995-01
Volum
12
Número
4
Pàgina inicial
60
Pàgina final
67
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants