Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Current Testing of CMOS Combinational Circuits with Single Floating Gate Defects

Autor
Figueras, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
VLSI systems design
Data de publicació
1999-12
Volum
5
Número
3
Pàgina inicial
284
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants