Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Leakage currents and dielectric breakdown of Si1·x·yGexCy thermal oxides

Autor
Cuadras, A.; Garrido, B.; Morante, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronics reliability
Data de publicació
2008-08
Volum
48
Número
10
Pàgina inicial
1635
Pàgina final
1640
DOI
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2008.07.061 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
GRUP ISI - Grup d'Instrumentació, Sensors i Interfícies

Participants