Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Compact bic sensor for iddq testing of cmos circuits

Autor
Lupon, E.; Gorriz, G.; Martinez, C.; Figueras, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Electronics Letters
Data de publicació
1993-04
Volum
29
Número
9
Pàgina inicial
772
Pàgina final
774
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants