Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

A straightforward analytical method for extraction of semiconductor device transient thermal parameters

Autor
Masana, F.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronics reliability
Data de publicació
2007-12
Volum
47
Número
12
Pàgina inicial
2112
Pàgina final
2128
Grup de recerca
MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies

Participants

  • Masana Nadal, Francisco  (autor)