Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Total activitats: 738
Tipus
Grup de recerca
Tipus de grup
Grup de recerca UPC
Acrònim
HIPICS
URL
http://hipics.upc.edu/ Obrir en finestra nova
Objectius
És un grup especialitzat en disseny microelectrònica en tecnologia CMOS. Amb dues grans línies de treball: sistemes de radio-freqüència i sistemes digitals.
En l'àmbit digital, la recerca del grup és el de les arquitectures de computació en nano-tecnologies futures on els components (dispositius), presenten una molt baixa qualitat en termes de fiabilitat, variabilitat i degradació. Aquestes tecnologies, extensió de les introduïdes per John von Neumann, permeten la implementació de sistemes robustos. Addicionalment tècniques adaptatives en circuits digitals a variacions PVT.
Circuits de recuperació d’energia (Energy Harvesting) amb nous dispositius.
En el camp de circuits RF: tècniques no intrusives de caracterització/test emprant mesures de temperatura. Disseny de circuits RF robusts a variacions de procés. Impacte del soroll acoblat a través del substrat. Disseny de circuits de comunicacions per altes prestacions. Estudi de circuits RF utilitzant tecnologies basades en carboni.
Paraules clau
Tecnología electrónica, Disseny microelectrònic CMOS, Disseny microelectrònic emprant tecnologies nanomètriques, Efectes de les variacions de process, Tècniques de disseny per paliar els efectes de la variabilitat de process, Disseny de circuits monitors de prestacions, Tecniques de disseny de circuits adaptatius/reconfiguratius, Test i caracterització de circuits de RF i ones milimètriques
Completa aquestes dades (només responsables)
  • Aldrete Vidrio, Hector Eduardo
    (fins 2010-09-27)
  • Andrade Miceli, Dennis Michael
    (fins 2010-11-30)
  • Aymerich Capdevila, Nivard
    (fins 2013-09-01)
  • Dufis, Cédric Yvan
    (fins 2011-03-20)
  • Garcia Almudever, Carmen
    (fins 2014-06-21)
  • García Leyva, Lancelot
    (fins 2011-09-01)
  • Gomez Fernandez, Sergio
    (fins 2013-12-31)
  • Gonzalez Jimenez, Jose Luis
    (fins 2014-08-31)
  • Gómez Salinas, Dídac
    (fins 2012-04-30)
  • Landauer, Gerhard Martin
    (fins 2014-02-28)
    Extern a la UPC
  • Martorell Cid, Ferran
    (fins 2008-11-30)
  • Mauricio Ferré, Juan
    (fins 2012-01-01)
  • Molina Garcia, Marc Manel
    (fins 2011-03-31)
  • Nunes Cavalheiro, David Manuel
    (fins 2017-10-08)
  • Osorio Tamayo, Juan Felipe
    (fins 2006-06-30)
  • Pons Solé, Marc
    (fins 2012-03-31)
  • Trulls Fortuny, Xavier
    (fins 2012-05-06)

Producció científica

1 a 50 de 738 resultats
 
  • Differential temperature sensor with high sensitivity, wide dynamic range and digital offset calibration

     Vidal, E.; Ruiz, S.; Duquenoy, J.; González, J.; Altet, J.
    Sensors and actuators A. Physical
    Vol. 263, p. 373-379
    DOI: 10.1016/j.sna.2017.06.022
    Data de publicació: 2017-08-15
    Article en revista
  • MOSFET degradation dependence on input signal power in a RF power amplifier  Accés obert

     Crespo, A.; Barajas, E.; Martin, J.; Mateo, D.; Aragones, X.; Rodríguez, R.; Nafría, M.
    Microelectronic engineering
    Vol. 178, p. 289-292
    DOI: 10.1016/j.mee.2017.05.021
    Data de publicació: 2017-06-25
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Statistical characterization and modeling of random telegraph noise effects in 65nm SRAM cells

     Martinez, J.; Rodriguez, R.; Nafria, M.; Torrents, G.; Bota, S.A.; Segura, J.; Moll, F.; Rubio, A.
    International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/SMACD.2017.7981610
    Data de presentació: 2017-06-15
    Presentació treball a congrés
  • Ultra-low Power Circuits based on Tunnel FETs for Energy Harvesting Applications

     Nunes, D.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
  • Crossbar-based memristive logic-in-memory architecture  Accés obert

     Papandroulikadis, G.; Vourkas, I.; Abustelema, A.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    IEEE transactions on nanotechnology
    Vol. 16, num. 3, p. 491-501
    DOI: 10.1109/TNANO.2017.2691713
    Data de publicació: 2017-04-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Design of a broadband CMOS RF power amplifier to establish device-circuit aging correlations

     Barajas, E.; Mateo, D.; Aragones, X.; Crespo, A.; Rodríguez, R.; Martin, J.; Nafría, M.
    International Conference of Microelectronic Test Structures
    p. 1-3
    DOI: 10.1109/ICMTS.2017.7954272
    Data de presentació: 2017-03-29
    Presentació treball a congrés
  • Resistive random access memory variability and its mitigation schemes

     Pouman, P.; Amat, E.; Hamdioui, S.; Rubio, A.
    Journal of low power electronics
    Vol. 13, num. 1, p. 124-134
    DOI: 10.1166/jolpe.2017.1464
    Data de publicació: 2017-03-01
    Article en revista
  • Insights into tunnel FET-based charge pumps and rectifiers for energy harvesting applications  Accés obert

     Nunes, D.; Moll, F.; Valtchev, S.
    IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
    Vol. 25, num. 3, p. 988-997
    DOI: 10.1109/TVLSI.2016.2617203
    Data de publicació: 2017-03-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Statistical analysis and comparison of 2T and 3T1D e-DRAM minimum energy operation  Accés obert

     Rana, M.; Canal, R.; Amat, E.; Rubio, A.
    IEEE transactions on device and materials reliability
    Vol. 17, num. 1, p. 42-51
    DOI: 10.1109/TDMR.2017.2667619
    Data de publicació: 2017-03-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Thermal phase lag heterodyne infrared imaging for current tracking in radio frequency integrated circuits

     Perpiñà, X.; León, J.; Altet, J.; Vellvehi, M.; Reverter, F.; Barajas, E.; Jordà, X.
    Applied physics letters
    Vol. 110, num. 094101, p. 1-5
    DOI: 10.1063/1.4977175
    Data de publicació: 2017-02-27
    Article en revista
  • Exploring the voltage divider approach for accurate memristor state tuning

     Vourkas, I.; Gomez, J.; Abusleme, A.; Vasileiadis, N.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    Latin American Symposium on Circuits and Systems
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/LASCAS.2017.7948043
    Data de presentació: 2017-02-20
    Presentació treball a congrés
  • Dispositivos, circuitos y arquitecturas fiables y de bajo consumo para IoT.

     Rubio, A.; Moll, F.; Calomarde, A.; Altet, J.; Aragones, X.; Mateo, D.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Experience on material implication computing with an electromechanical memristor emulator  Accés obert

     Rubio, A.; Moll, F.; Escudero, M.; Zuin, S.; Vourkas, I.; Sirakoulis, G.
    IEEE Symposium Series on Computational Intelligence
    p. 170-175
    DOI: 10.1109/SSCI.2016.7850154
    Data de presentació: 2016-12-08
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • An experience with chalcogenide memristors, and implications on memory and computer applications

     Escudero, M.; Amat, E.; Rubio, A.; Pouman, P.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 46-50
    DOI: 10.1109/DCIS.2016.7845387
    Data de presentació: 2016-11-23
    Presentació treball a congrés
  • TFET-Based power management circuit for RF energy harvesting  Accés obert

     Nunes, D.; Moll, F.; Valtchev, S.
    IEEE Journal of the Electron Devices Society
    Vol. 5, num. 1, p. 7-17
    DOI: 10.1109/JEDS.2016.2619908
    Data de publicació: 2016-11-14
    Article en revista
    Accés al text complet
  • RRAM variability and its mitigation schemes  Accés obert

     Pouman, P.; Amat, E.; Hamdioui, S.; Rubio, A.
    International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation
    p. 141-146
    DOI: 10.1109/PATMOS.2016.7833679
    Data de presentació: 2016-09-22
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Active charge collection strategy for radiation environment at device level

     Calomarde, A.; Amat, E.; Rubio, A.; Moll, F.; Gamiz, F.
    Radiation Effects on Components & Systems
    Data de presentació: 2016-09-21
    Presentació treball a congrés
  • 1-D memristor networks as ternary storage cells

     Vourkas, I.; Abusleme, A.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    International Workshop on Cellular Nanoscale Networks and their Applications
    p. 101-102
    Data de presentació: 2016-08-24
    Presentació treball a congrés
  • Temperature sensors and measurements to test analogue circuits: questions and answers

     Altet, J.; Rubio, A.; Reverter, F.; Perpiñà, X.; Aragones, X.; Jordà, X.; Vellvehi, M.; Mateo, D.
    International Mixed-Signal Testing Workshop
    p. 1-5
    DOI: 10.1109/IMS3TW.2016.7524241
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
  • A digital memristor emulator for FPGA-based artificial neural networks

     Vourkas, I.; Abusleme, A.; Ntinas, V.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    IEEE International Verification and Security Workshop
    p. 54-57
    DOI: 10.1109/IVSW.2016.7566607
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
  • Statistical analysis and comparison of 2T and 3T1D e-DRAM minimum energy operation  Accés obert

     Rana, M.; Canal, R.; Amat, Esteve; Rubio, A.
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
    p. 33-38
    DOI: 10.1109/IOLTS.2016.7604667
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Memristive crossbar memory lifetime evaluation and reconfiguration strategies  Accés obert

     Pouman, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    IEEE Transactions on emerging topics in computing
    DOI: 10.1109/TETC.2016.2581700
    Data de publicació: 2016-06-20
    Article en revista
  • A battery-less, self-sustaining RF energy harvesting circuit with TFETs for µW power applications  Accés obert

     Nunes, D.; Moll, F.; Valtchev, S.
    International New Circuits and Systems Conference
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/NEWCAS.2016.7604751
    Data de presentació: 2016-06
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Monitoring SRAM BTI degradation by current-based tracking technique

     Pouyan, P.; Amat, Esteve; Rubio, A.
    International New Circuits and Systems Conference
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/NEWCAS.2016.7604766
    Data de presentació: 2016-06
    Presentació treball a congrés
  • Circuit considerations and design for MEMS capacitance measurements

     Andrade, D.; Giounalis, P.; Gorreta, S.; Pons, J.; Dominguez, M.; Blokhina, E.
    Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/PRIME.2016.7519540
    Data de presentació: 2016-06
    Presentació treball a congrés
  • ASIC implementation of an all-digital self-adaptive PVTA variation-aware clock generation system

     Pérez-Puigdemont, J.; Moll, F.
    ACM Great Lakes Symposium on VLSI
    p. 381-384
    DOI: 10.1145/2902961.2903006
    Data de presentació: 2016-05
    Presentació treball a congrés
  • MOSFET dynamic thermal sensor for IC testing applications

     Reverter, F.; Perpiñà, X.; Barajas, E.; León, J.; Vellvehi, M.; Jordà, X.; Altet, J.
    Sensors and actuators A. Physical
    Vol. 242, p. 195-202
    DOI: 10.1016/j.sna.2016.03.016
    Data de publicació: 2016-05-01
    Article en revista
  • Feasibility of Embedded DRAM Cells on FinFET Technology

     Amat, Esteve; Calomarde, A.; Moll, F.; Canal, R.; Rubio, A.
    IEEE transactions on computers
    Vol. 65, num. 4, p. 1068-1074
    DOI: 10.1109/TC.2014.2375204
    Data de publicació: 2016-04-01
    Article en revista
  • Analysis of the high frequency substrate noise effects on LC-VCOs  Accés obert

     Molina, M.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • Metodología de diseño lógico redundante para escenarios con ruido extremadamente alto y bajo voltaje de alimentación  Accés obert

     García, L.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • Robust sequential circuits design technique for low voltage and high noise scenarios  Accés obert

     García, L.; Rivera, J.; Calomarde, A.; Moll, F.; Rubio, A.
    International Conference on Control, Mechatronics and Automation
    p. 1-4
    DOI: 10.1051/matecconf/20164202003
    Data de presentació: 2016
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Monitor amb control strategies to reduce the impact of Process Variations in digital circuits  Accés obert

     Mauricio, J.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • Reliability-Aware Memory Design Using Advanced Reconfiguration Mechanisms  Accés obert

     Pouyan, P.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • DC temperature measurements to characterize the central frequency and 3 dB bandwidth in mmW power amplifiers  Accés obert

     Aragones, X.; Mateo, D.; Gonzalez, J.; Vidal, E.; Gómez, D.; Martineau, B.; Altet, J.
    IEEE microwave and wireless components letters
    Vol. 25, num. 11, p. 745-747
    DOI: 10.1109/LMWC.2015.2479848
    Data de publicació: 2015-11
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Insights to memristive memory cell from a reliability perspective  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    International Conference on Memristive Systems
    p. 1-2
    DOI: 10.1109/MEMRISYS.2015.7378382
    Data de presentació: 2015-11
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Heterogeneous memristive crossbar for in-memory computing  Accés obert

     Papandroulidakis, G.; Vourkas, I.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    International Conference on Memristive Systems
    p. 1-2
    DOI: 10.1109/MEMRISYS.2015.7378388
    Data de presentació: 2015-11
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Self-calibrating closed-loop circuit for configurable constant voltage thermal anemometers  Accés obert

     Gorreta, S.; Barajas, E.; Kowalski, L.; Atienza, M.T.; Dominguez, M.; Jimenez, V.
    Electronics Letters
    Vol. 51, num. 19, p. 1499-1500
    DOI: 10.1049/el.2015.1947
    Data de publicació: 2015-09-17
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Characterization of MOSFET temperature sensors for on-chip dynamic thermal measurements  Accés obert

     Reverter, F.; Perpinyà, X.; Leon, J.; Vellvehi, M.; Jordà, X.; Altet, J.
    Eurosensors Conference
    p. 836-839
    DOI: 10.1016/j.proeng.2015.08.699
    Data de presentació: 2015-09-07
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Adaptive Proactive Reconfiguration: A Technique for Process-Variability-and Aging-Aware SRAM Cache Design  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, Esteve; Rubio, A.
    IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
    Vol. 23, num. 9, p. 1951-1955
    DOI: 10.1109/TVLSI.2014.2355873
    Data de publicació: 2015-09-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Memristive crossbar design and test in non-adaptive proactive reconfiguring scheme

     Pouyan, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    European Conference on Circuit Theory and Design
    DOI: 10.1109/ECCTD.2015.7300125
    Data de presentació: 2015-08-25
    Presentació treball a congrés
  • Novel charge pump converter with Tunnel FET devices for ultra-low power energy harvesting sources  Accés obert

     Nunes, D.; Moll, F.; Valtchev, S.
    International Midwest Symposium on Circuits and Systems
    DOI: 10.1109/MWSCAS.2015.7282034
    Data de presentació: 2015-08
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Novel UHF passive rectifier with tunnel FET devices  Accés obert

     Nunes, D.; Moll, F.; Valtchev, S.
    IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI
    p. 309-314
    DOI: 10.1109/ISVLSI.2015.57
    Data de presentació: 2015-07
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Local variations compensation with DLL-based body bias generator for UTBB FD-SOI technology

     Mauricio, J.; Moll, F.
    International New Circuits and Systems Conference
    DOI: 10.1109/NEWCAS.2015.7182005
    Data de presentació: 2015-06
    Presentació treball a congrés
  • Tunnel FET device characteristics for RF energy harvesting passive rectifiers  Accés obert

     Nunes, D.; Moll, F.; Valtchev, S.
    International New Circuits and Systems Conference
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/NEWCAS.2015.7182102
    Data de presentació: 2015-06
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Pespectives of TFET devices in ultra-low power charge pumps for thermo-electric energy sources

     Nunes, D.; Moll, F.; Valtchev, S.
    IEEE International Symposium on Circuits and Systems
    p. 1082-1085
    DOI: 10.1109/ISCAS.2015.7168825
    Data de presentació: 2015-05
    Presentació treball a congrés
  • Statistical lifetime analysis of memristive crossbar matrix  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127378
    Data de presentació: 2015-04-22
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Variability and reliability analysis of CNFET technology: impact of manufacturing imperfections  Accés obert

     Almudever, C.G.; Rubio, A.
    Microelectronics reliability
    Vol. 55, num. 2, p. 358-366
    DOI: 10.1016/j.microrel.2014.11.011
    Data de publicació: 2015-02-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • On-chip thermal testing using MOSFETs in weak inversion  Accés obert

     Reverter, F.; Altet, J.
    IEEE transactions on instrumentation and measurement
    Vol. 64, num. 2, p. 524-532
    DOI: 10.1109/TIM.2014.2341371
    Data de publicació: 2015-02-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Statistical lifetime analysis in memristive crossbar  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, Esteve; Rubio, A.
    Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet