Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Rodríguez Montañés, Rosa

Total activitats: 124
Àrees d'expertesa
CMOS, Defectes, Diagnosi, Memòries emergentes NVM, Nanoelectrònica, PUF, RRAM, STT, Test, Variabilitat, Seguretat
Categoria professional
Titular d'universitat
Doctorat
Doctora en ciencias físicas (Electrónica)
Titulació universitària
Licenciada en ciencias físicas
Grup de recerca
CRNE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
Departament
Departament d'Enginyeria Electrònica
Centre docent
Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)
Correu electrònic
rosa.rodriguezupc.edu
Dades de contacte
Directori de la UPC Obrir en finestra nova
Orcid
0000-0001-6231-0862 Obrir en finestra nova
Scopus Author ID
6603340256 Obrir en finestra nova
Completa les teves dades

Producció científica

1 a 50 de 124 resultats
 
  • Random masking interleaved scrambling technique as a countermeasure for DPA/DEMA attacks in cache memories

     Neagu, M.; Rodriguez, R.; Arumi, D.; Manich, S.
    Conference on Trustworthy Manufacturing and Utilization of Secure Devices
    p. 21
    Data de presentació: 2016-11-14
    Presentació treball a congrés
  • RRAM based cell for hardware security applications

     Arumi, D.; Manich, S.; Rodriguez, R.
    IEEE International Verification and Security Workshop
    p. 7-12
    DOI: 10.1109/IVSW.2016.7566599
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
  • Backside polishing detector: a new protection against backside attacks  Accés obert

     Manich, S.; Arumi, D.; Rodriguez, R.; Mujal, J.; Hernandez, D.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2015-11-25
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Test escapes of stuck-open faults caused by parasitic capacitances and leakage currents  Accés obert

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
    Vol. 24, num. 5, p. 1739-1748
    DOI: 10.1109/TVLSI.2015.2477103
    Data de publicació: 2015-09-24
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Prebond testing of weak defects in TSVs

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
    Vol. PP, num. 99, p. 31-36
    DOI: 10.1109/TVLSI.2015.2448594
    Data de publicació: 2015-08-07
    Article en revista
  • Ensenyament basat en projectes en els nous graus d'enginyeria a l'ETSEIB: Projecte 1 i Projecte 2

     Alquezar, O.; Angulo, C.; Boix, O.; Buj, I.; Calvo, J.; Cardona, S.; Cortina, J.; Garcia-Planas, M.I.; Grima, P.; Jordi, L.; Lusa, A.; Martinez, M.; Mateo, M.; Morancho, J.; Moreno, M.; Rodero, L.; Rodriguez, R.; Solano, L.; Tost, D.; Vilaplana, J.
    Jornada de Docència a l'ETSEIB
    Data de presentació: 2015-07-13
    Presentació treball a congrés
  • STT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations

     Vatajelu, E.; Rodriguez, R.; Indaco, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
    International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127377
    Presentació treball a congrés
  • Power-aware voltage tuning for STT-MRAM reliability

     Vatajelu, E.; Rodriguez, R.; Stefano Di Carlo; Renovell, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/ETS.2015.7138748
    Presentació treball a congrés
  • Read/write robustness estimation metrics for spin transfer torque (STT) MRAM cell

     Vatajelu, E.; Rodriguez, R.; Indaco, M.; Renovell, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
    Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
    p. 447-452
    Presentació treball a congrés
  • Resistive open defect characteritzation in 3D 6T SRAM memories

     Castillo, R.; Arumi, D.; Rodriguez, R.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-11-26
    Presentació treball a congrés
  • Electrical localisation of full open defects in comb-meander-comb structures

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    Electronics Letters
    Vol. 50, num. 23, p. 1682-1683
    DOI: 10.1049/el.2014.3104
    Data de publicació: 2014-11-06
    Article en revista
  • Pre-bond testing of weak defects in TSVs

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
    p. 31-36
    DOI: 10.1109/IOLTS.2014.6873668
    Data de presentació: 2014-07-07
    Presentació treball a congrés
  • Post-Bond test of through-silicon vias with open defects

     Rodriguez, R.; Arumi, D.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/ETS.2014.6847816
    Data de presentació: 2014-05-29
    Presentació treball a congrés
  • Análisis y técnicas de mejora de la robustez y seguridad de circuitos nanométricos en presencia de ataques, defectos, variabilidad y Aging

     Balado, L.; Manich, S.; Rius, J.; Lamaison, R.; Renovell, M.; Lupon, E.; Arumi, D.; Figueras, J.; Rodriguez, R.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Reliability estimation at block-level granularity of spin-transfer-torque MRAMs

     Stefano Di Carlo; Indaco, M.; Paolo Prinetto; Vatajelu, E. I.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
    p. 75-80
    DOI: 10.1109/DFT.2014.6962093
    Data de presentació: 2014
    Presentació treball a congrés
  • Backside polishing detector

     Manich, S.; Arumi, D.; Rodriguez, R.; Sigl, G.; Mujal, J.
    Workshop on Secure Hardware and Security Evaluation
    Data de presentació: 2013-12-13
    Presentació treball a congrés
  • Una propuesta de evaluación de competencias genéricas en grados de Ingeniería  Accés obert

     Martinez, M.; Amante, B.; Cadenato, A.; Rodriguez, R.
    Red U: revista de docencia universitaria (online)
    Vol. 11, num. extraordinario, p. 111-139
    Data de publicació: 2013-10-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Diagnosis of interconnect full open defects in the presence of gate leakage currents

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
    Vol. 32, num. 2, p. 301-312
    DOI: 10.1109/TCAD.2012.2228269
    Data de publicació: 2013-02
    Article en revista
  • BIST Architecture to Detect Defects in TSVs During Pre-Bond Testing

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    DOI: 10.1109/ETS.2013.6569389
    Presentació treball a congrés
  • Adaptive self test of defective TSVs

     Rodriguez, R.; Arumi, D.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2012-11-30
    Presentació treball a congrés
  • Circuito de autotest integrado de TSVs

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    Data de sol·licitud: 2012-10-09
    Patent d'invenció
  • Shape-shifting digital hardware concept: towards a new adaptive computing system

     Rubio, A.; Garcia, C.; Martin, J.; Crespo, A.; Rodriguez, R.; Nafría, M.
    NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems
    p. 167-173
    Data de presentació: 2012-07
    Presentació treball a congrés
  • Integració i avaluació de competències genèriques als Graus de l'ETSEIB

     Rodriguez, R.; Aguilar Perez, Marta.
    Jornada d'Innovació Docent
    Data de presentació: 2012-02-07
    Presentació treball a congrés
  • Integració i avaluació de competències genèriques als Graus de l'ETSEIB  Accés obert

     Rodriguez, R.; Aguilar Perez, Marta.
    Jornada d'Innovació Docent
    p. 1-10
    Data de presentació: 2012-02-07
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Gate leakage impact on full open defects in interconnect lines  Accés obert

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
    Vol. 19, num. 12, p. 2209-2220
    DOI: 10.1109/TVLSI.2010.2077315
    Data de publicació: 2011-12
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Diagnosis of Interconnect Full Open Defects in the Presence of Fan-Out

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
    Vol. 30, num. 12, p. 1911-1922
    DOI: 10.1109/TCAD.2011.2165071
    Data de publicació: 2011-12
    Article en revista
  • 8T SRAM Cell with Open Defects under Voltage and Timing Variations  Accés obert

     Rodriguez, R.; Arumi, D.; Figueras, J.; Castillo, R.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 155-160
    Data de presentació: 2011-11-16
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • CLIL implementation at a Spanish university: A pilot experience

     Aguilar Perez, Marta.; Rodriguez, R.; Oriol, C.
    English for International and Intercultural Communication
    p. 31-32
    Data de presentació: 2011-06-03
    Presentació treball a congrés
  • Lecturer and student perceptions on CLIL at a spanish university

     Aguilar Perez, Marta.; Rodriguez, R.
    International journal of bilingual education and bilingualism
    Vol. 15, num. 2-3, p. 183-197
    DOI: 10.1080/13670050.2011.615906
    Data de publicació: 2011
    Article en revista
  • Impacto de la variabilidad en las estrategias de test y diagnóstico de circuitos micro/nanoelectrónicos

     Balado, L.; Sanahuja, R.; Lupon, E.; Rius, J.; Rodriguez, R.; Manich, S.; Vatajelu, E.; Arumi, D.; Figueras, J.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Simulations of interconnect open faults

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    Data: 2010-11
    Document cientificotècnic
  • Diagnosis of full open defects in interconnect lines with fan-out

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    Data: 2010-11
    Document cientificotècnic
  • Detectability study of single via opens in a 90nm technology design

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    Data: 2010-10
    Document cientificotècnic
  • Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects

     Rodriguez, R.; Arumi, D.; Manich, S.; Figueras, J.; Stefano Di Carlo; Paolo Prinetto; Scionti, A.
    International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle
    p. 81-86
    DOI: 10.1109/VALID.2010.19
    Data de presentació: 2010-08-24
    Presentació treball a congrés
  • Diagnosis of full open defects in interconnect lines with fan-out  Accés obert

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    IEEE European Test Symposium
    p. 233-238
    Data de presentació: 2010-05-27
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Localization and electrical characterization of interconnect open defects  Accés obert

     Rodriguez, R.; Arumi, D.; Figueras, J.; Beverloo, W.; de Vries, D.; Eichenberger, S.; Volf, P.
    IEEE transactions on semiconductor manufacturing
    Vol. 23, num. 1, p. 65-76
    DOI: 10.1109/TSM.2009.2039187
    Data de publicació: 2010-02
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Open defects in nanometer technologies

     Figueras, J.; Rodriguez, R.; Arumi, D.
    DOI: 10.1007/978-90-481-3282-9
    Data de publicació: 2009-11-01
    Capítol de llibre
    Imatge
  • Models for Bridging Defects

     Renovell, M.; Azais, F.; Figueras, J.; Rodriguez, R.; Arumi, D.
    DOI: 10.1007/978-90-481-3282-9
    Data de publicació: 2009-11-01
    Capítol de llibre
    Imatge
  • Delay caused by resistive opens in interconnecting lines

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 42, num. 3, p. 286-293
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2008.11.001
    Data de publicació: 2009-06
    Article en revista
  • HI2008-0041 Acción integrada de investigación científica y tecnológica entre España e Italia

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.; Manich, S.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Qualitat en Electrònica: Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades

     Figueras, J.; Carrasco, J.; Lupon, E.; Manich, S.; Rodriguez, R.; Rius, J.; Balado, L.; Ferre, A.; Suñe, V.; Arumi, D.; Sanahuja, R.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Impact of Gate Leakage Currents on Full Open Defects in SRAM Cells

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2008-11-12
    Presentació treball a congrés
  • Time-dependent behaviour of full open defects in interconnecting lines

     Rodriguez, R.; Arumi, D.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    IEEE International Test Conference
    p. 1-10
    Data de presentació: 2008-10-29
    Presentació treball a congrés
  • Enhancement of defect diagnosis based on the analysis of CMOS DUT behaviour  Accés obert

     Arumi, D.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
  • VTS07 Best Paper Award

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.; Rodríguez-Montañés, R.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.; Lousberg, M.; Majhi, A.
    Premi o reconeixement
  • Experimental Characterization of CMOS Interconnect Open Defects

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
    Vol. 27, num. 1, p. 123-136
    DOI: 10.1109/TCAD.2007.907255
    Data de publicació: 2008-01
    Article en revista
  • Impact of Gate Tunnelling Leakage on CMOS Circuits with Full Open Defects

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2007-11-22
    Presentació treball a congrés
  • Impact of gate tunnelling leakage on CMOS circuits with full open defects  Accés obert  Activitat premiada

     Rodriguez, R.; Arumi, D.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    Electronics Letters
    Vol. 43, num. Issue 21, p. 1140-1141
    DOI: 10.1049/el:20072117
    Data de publicació: 2007-10
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Diagnostico en tecnologias CMOS nanometricas: mejora del rendimiento

     Arumi, D.; Rodriguez, R.; Lupon, E.; Manich, S.; Rius, J.; Balado, L.
    Projecte R+D+I competitiu