Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Producció científica

1 a 50 de 320 resultats
 
  • Self-healing and secure low-power memory systems

    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
  • Mixed-signal alternate test and binning using digitally encoded signatures  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • Multi-directional space tessellation to improve the decision boundary in indirect mixed-signal testing

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)
    p. 1-14
    DOI: 10.1007/s10836-017-5648-y
    Data de publicació: 2017-02-20
    Article en revista
  • Criteria for selecting a subset of indirect measurements for analog testing

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2016-11-23
    Presentació treball a congrés
  • Indirect test of M-S circuits using multiple specification band guarding

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 55, p. 415-424
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2016.04.007
    Data de publicació: 2016-09-01
    Article en revista
  • Efficient production binning using octree tessellation in the alternate measurements space  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
    Vol. 35, num. 8, p. 1386-1395
    DOI: 10.1109/TCAD.2015.2501309
    Data de publicació: 2016-08-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Best PhD Student Paper Award

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • Improving indirect test efficiency using multi-directional tessellations in the measure space

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Mixed-Signal Testing Workshop
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/IMS3TW.2016.7524230
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
  • Best Paper Award Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS2015)

     Álvaro Gómez-Pau; Lupon, E.; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • Mixed-Signal Circuits Testing Using Digitally Coded Indirect Measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2015-11-25
    Presentació treball a congrés
  • Adaptive test system applied to the generation of mixed-signal signatures

     Álvaro Gómez-Pau; Lupon, E.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 7-
    Data de presentació: 2015-11-25
    Presentació treball a congrés
  • Mixed-signal test band guarding using digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/SMACD.2015.7301708
    Data de presentació: 2015-09-09
    Presentació treball a congrés
  • Diagnosis of parametric defects in dual axis IC accelerometers

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Microsystem technologies
    Vol. 21, num. 9, p. 1855-1866
    DOI: 10.1007/s00542-014-2218-4
    Data de publicació: 2015-09-01
    Article en revista
  • Prebond testing of weak defects in TSVs

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
    IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
    Vol. PP, num. 99, p. 31-36
    DOI: 10.1109/TVLSI.2015.2448594
    Data de publicació: 2015-08-07
    Article en revista
  • STT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations

     Vatajelu, E.; Rodriguez-Montanes, R.; Indaco, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
    International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127377
    Presentació treball a congrés
  • Power-aware voltage tuning for STT-MRAM reliability

     Vatajelu, E.; Rodriguez-Montanes, R.; Stefano Di Carlo; Renovell, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/ETS.2015.7138748
    Presentació treball a congrés
  • Analog circuits testing using digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
    p. 57-62
    DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127357
    Presentació treball a congrés
  • Read/write robustness estimation metrics for spin transfer torque (STT) MRAM cell

     Vatajelu, E.; Rodriguez-Montanes, R.; Indaco, M.; Renovell, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
    Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
    p. 447-452
    Presentació treball a congrés
  • An efficient behavioral description frontend tool for mixed-mode SPICE simulation  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.; Chatterjee, A.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Quality metrics for mixed-signal indirect testing  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-11-26
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Electrical localisation of full open defects in comb-meander-comb structures

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
    Electronics Letters
    Vol. 50, num. 23, p. 1682-1683
    DOI: 10.1049/el.2014.3104
    Data de publicació: 2014-11-06
    Article en revista
  • Pre-bond testing of weak defects in TSVs

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
    p. 31-36
    DOI: 10.1109/IOLTS.2014.6873668
    Data de presentació: 2014-07-07
    Presentació treball a congrés
  • Criteria for indirect measurements in M-S testing

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Workshop on Statistical Test Methods
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-05-30
    Presentació treball a congrés
  • Post-Bond test of through-silicon vias with open defects

     Rodriguez-Montanes, R.; Arumi, D.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/ETS.2014.6847816
    Data de presentació: 2014-05-29
    Presentació treball a congrés
  • M-S specification binning based on digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 105-110
    Data de presentació: 2014-05-28
    Presentació treball a congrés
  • Análisis y técnicas de mejora de la robustez y seguridad de circuitos nanométricos en presencia de ataques, defectos, variabilidad y Aging

     Rodriguez-Montanes, R.; Balado, L.; Arumi, D.; Lupon, E.; Figueras, J.; Manich, S.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Análisis y técnicas de mejora de la robustez y seguridad de circuitos nanométricos en presencia de ataques, defectos, variabilidad y Aging

     Manich, S.; Rodriguez-Montanes, R.; Balado, L.; Rius, J.; Lamaison, R.; Renovell, M.; Lupon, E.; Arumi, D.; Weiner, M.; Álvaro Gómez-Pau; Figueras, J.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Candidate Best Paper Award in Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS2014)

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • Reliability estimation at block-level granularity of spin-transfer-torque MRAMs

     Stefano Di Carlo; Indaco, M.; Paolo Prinetto; Vatajelu, E. I.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
    IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
    p. 75-80
    DOI: 10.1109/DFT.2014.6962093
    Data de presentació: 2014
    Presentació treball a congrés
  • SRAM cell stability metric under transient voltage noise

     Vatajelu, E. I.; Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.
    Microelectronics journal
    Vol. 45, num. 10, p. 1348-1353
    DOI: 10.1016/j.mejo.2013.11.005
    Data de publicació: 2013-12-20
    Article en revista
  • Test of dual axis accelerometers based on specifications compliance  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2013-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • M-S test based on specification validation using octrees in the measure space

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 70-75
    DOI: 10.1109/ETS.2013.6569359
    Data de presentació: 2013-05-28
    Presentació treball a congrés
  • Nondestructive diagnosis of mechanical misalignments in dual axis accelerometers

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS
    Data de presentació: 2013-04-18
    Presentació treball a congrés
  • Diagnosis of interconnect full open defects in the presence of gate leakage currents

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
    Vol. 32, num. 2, p. 301-312
    DOI: 10.1109/TCAD.2012.2228269
    Data de publicació: 2013-02
    Article en revista
  • BIST Architecture to Detect Defects in TSVs During Pre-Bond Testing

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    DOI: 10.1109/ETS.2013.6569389
    Presentació treball a congrés
  • SRAM stability metric under transient noise  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2012-11-30
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Adaptive self test of defective TSVs

     Rodriguez-Montanes, R.; Arumi, D.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2012-11-30
    Presentació treball a congrés
  • Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 223-228
    Data de presentació: 2012-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Circuito de autotest integrado de TSVs

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
    Data de sol·licitud: 2012-10-09
    Patent d'invenció
  • Process variability in sub-16nm bulk CMOS technology  Accés obert

     Rubio, A.; Figueras, J.; Vatajelu, E.; Canal, R.
    Data: 2012-03-01
    Document cientificotècnic
    Accés al text complet
  • Efficiency evaluation of parametric failure mitigation techniques for reliable SRAM operation

     Figueras, J.; Vatajelu, E. I.
    Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
    p. 1343-1348
    Data de presentació: 2012
    Presentació treball a congrés
  • Gate leakage impact on full open defects in interconnect lines  Accés obert

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
    Vol. 19, num. 12, p. 2209-2220
    DOI: 10.1109/TVLSI.2010.2077315
    Data de publicació: 2011-12
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Diagnosis of Interconnect Full Open Defects in the Presence of Fan-Out

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
    IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
    Vol. 30, num. 12, p. 1911-1922
    DOI: 10.1109/TCAD.2011.2165071
    Data de publicació: 2011-12
    Article en revista
  • Testing dual axis IC accelerometers using Lissajous compositions

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-4
    Data de presentació: 2011-11-17
    Presentació treball a congrés
  • 8T SRAM Cell with Open Defects under Voltage and Timing Variations  Accés obert

     Rodriguez-Montanes, R.; Arumi, D.; Figueras, J.; Castillo, R.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 155-160
    Data de presentació: 2011-11-16
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • ROBUSTNESS ANALYSIS OF NANOMETRIC SRAM MEMORIES

     Vatajelu, E.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
  • Testing IC accelerometers using Lissajous compositions

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Perspective Technologies and Methods in MEMS Design
    p. 75-81
    Data de presentació: 2011-05-11
    Presentació treball a congrés
  • Impacto de la variabilidad en las estrategias de test y diagnóstico de circuitos micro/nanoelectrónicos

     Figueras, J.; Balado, L.; Sanahuja, R.; Lupon, E.; Rius, J.; Rodriguez-Montanes, R.; Manich, S.; Vatajelu, E.; Arumi, D.
    Projecte R+D+I competitiu
  • New reliability mechanisms in memory design for sub-22nm technologies

     Aymerich, N.; Brown, A.; Canal, R.; Cheng, B.; Figueras, J.; Gonzalez, A.; Herrero, E.; Markov, S.; Miranda, M.; Pouyan, P.; Ramirez, T.; Rubio, A.; Vatajelu, I.; Vera, F.J.; Wang, W.; Zuber, P.; ASenov, A.
    IEEE International On-Line Testing Symposium
    p. 111-114
    DOI: 10.1109/IOLTS.2011.5993820
    Presentació treball a congrés