Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Producció científica

1 a 50 de 125 resultats
 
  • Mixed-signal alternate test and binning using digitally encoded signatures  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • Multi-directional space tessellation to improve the decision boundary in indirect mixed-signal testing

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)
    p. 1-14
    DOI: 10.1007/s10836-017-5648-y
    Data de publicació: 2017-02-20
    Article en revista
  • Criteria for selecting a subset of indirect measurements for analog testing

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2016-11-23
    Presentació treball a congrés
  • Indirect test of M-S circuits using multiple specification band guarding

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 55, p. 415-424
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2016.04.007
    Data de publicació: 2016-09-01
    Article en revista
  • Efficient production binning using octree tessellation in the alternate measurements space  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
    Vol. 35, num. 8, p. 1386-1395
    DOI: 10.1109/TCAD.2015.2501309
    Data de publicació: 2016-08-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Best PhD Student Paper Award

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • Improving indirect test efficiency using multi-directional tessellations in the measure space

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Mixed-Signal Testing Workshop
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/IMS3TW.2016.7524230
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
  • Best Paper Award Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS2015)

     Álvaro Gómez-Pau; Lupon, E.; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • Mixed-Signal Circuits Testing Using Digitally Coded Indirect Measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2015-11-25
    Presentació treball a congrés
  • Adaptive test system applied to the generation of mixed-signal signatures

     Álvaro Gómez-Pau; Lupon, E.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 7-
    Data de presentació: 2015-11-25
    Presentació treball a congrés
  • Mixed-signal test band guarding using digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/SMACD.2015.7301708
    Data de presentació: 2015-09-09
    Presentació treball a congrés
  • Diagnosis of parametric defects in dual axis IC accelerometers

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Microsystem technologies
    Vol. 21, num. 9, p. 1855-1866
    DOI: 10.1007/s00542-014-2218-4
    Data de publicació: 2015-09-01
    Article en revista
  • Analog circuits testing using digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
    p. 57-62
    DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127357
    Presentació treball a congrés
  • An efficient behavioral description frontend tool for mixed-mode SPICE simulation  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.; Chatterjee, A.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Quality metrics for mixed-signal indirect testing  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-11-26
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Criteria for indirect measurements in M-S testing

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Workshop on Statistical Test Methods
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-05-30
    Presentació treball a congrés
  • M-S specification binning based on digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 105-110
    Data de presentació: 2014-05-28
    Presentació treball a congrés
  • Análisis y técnicas de mejora de la robustez y seguridad de circuitos nanométricos en presencia de ataques, defectos, variabilidad y Aging

     Rodriguez-Montanes, R.; Balado, L.; Arumi, D.; Lupon, E.; Figueras, J.; Manich, S.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Análisis y técnicas de mejora de la robustez y seguridad de circuitos nanométricos en presencia de ataques, defectos, variabilidad y Aging

     Manich, S.; Rodriguez-Montanes, R.; Balado, L.; Rius, J.; Lamaison, R.; Renovell, M.; Lupon, E.; Arumi, D.; Weiner, M.; Álvaro Gómez-Pau; Figueras, J.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Candidate Best Paper Award in Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS2014)

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • Test of dual axis accelerometers based on specifications compliance  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2013-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • M-S test based on specification validation using octrees in the measure space

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 70-75
    DOI: 10.1109/ETS.2013.6569359
    Data de presentació: 2013-05-28
    Presentació treball a congrés
  • Nondestructive diagnosis of mechanical misalignments in dual axis accelerometers

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS
    Data de presentació: 2013-04-18
    Presentació treball a congrés
  • Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 223-228
    Data de presentació: 2012-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Testing dual axis IC accelerometers using Lissajous compositions

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-4
    Data de presentació: 2011-11-17
    Presentació treball a congrés
  • Testing IC accelerometers using Lissajous compositions

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Perspective Technologies and Methods in MEMS Design
    p. 75-81
    Data de presentació: 2011-05-11
    Presentació treball a congrés
  • Impacto de la variabilidad en las estrategias de test y diagnóstico de circuitos micro/nanoelectrónicos

     Figueras, J.; Balado, L.; Sanahuja, R.; Lupon, E.; Rius, J.; Rodriguez-Montanes, R.; Manich, S.; Vatajelu, E.; Arumi, D.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Identification of component deviations in analog circuits using digital signatures

     Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 187-192
    Data de presentació: 2010-11-17
    Presentació treball a congrés
  • Analog circuit test based on a digital signature  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
    Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
    p. 1641-1644
    Data de presentació: 2010-03-08
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Verifying analog circuits based on a digital signature  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2009-11-18
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Digital signature generator for mixed-signal testing  Accés obert

     Sanahuja, R.; Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    Data de presentació: 2009-05-26
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Verifying Functional Specifications by Regression Techniques on Lissajous Test Signatures

     Balado, L.; Lupon, E.; Figueras, J.; Roca, M.; Isern, E.; Picos, R.
    IEEE transactions on circuits and systems I: regular papers
    Vol. 56, num. 4, p. 754-762
    DOI: 10.1109/TCSI.2008.2004342
    Data de publicació: 2009-04
    Article en revista
  • NUEVAS ESTRATEGIAS DE DIAGNÓSTICO Y TEST PARA CIRCUITOS INTEGRADOS CMOS NANOMÉTRICOS

     Figueras, J.; Balado, L.; Sanahuja, R.; Barcons, V.; Ferre, A.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Qualitat en Electrònica: Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades

     Figueras, J.; Carrasco, J.; Lupon, E.; Manich, S.; Rodriguez-Montanes, R.; Rius, J.; Balado, L.; Ferre, A.; Suñe, V.; Arumi, D.; Sanahuja, R.
    Projecte R+D+I competitiu
  • X-Y zoning circuit for low-cost signal monitoring

     Balado, L.; Sanahuja, R.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Presentació treball a congrés
  • Academic Network for Microelectronic Test Education

     Balado, L.; Figueras, J.; Novak, F.; Biasizzo, A.; Bertrand, Y.; Flottes, M.; Carlo, D.; Prinetto, P.; Pricopi, N.; Wunderlich, H.; Hayden, V.
    International journal of engineering education
    Vol. 23, num. 6, p. 1245-1253
    DOI: 0949-149X/91
    Data de publicació: 2007-11
    Article en revista