Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Rubio Sola, Jose Antonio

Total activitats: 409
Index h
28
Categoria professional
Catedràtic/a d'universitat
Grup de recerca
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Departament
Departament d'Enginyeria Electrònica
Centre docent
Escola Tècnica Superior d'Enginyeria de Telecomunicació de Barcelona (ETSETB)
Correu electrònic
antonio.rubioupc.edu
Dades de contacte
Directori de la UPC Obrir en finestra nova
Orcid
0000-0003-1625-1472 Obrir en finestra nova
ResearcherID
I-3900-2014 Obrir en finestra nova
Scopus Author ID
55910353000 Obrir en finestra nova
Completa les teves dades

Producció científica

1 a 50 de 409 resultats
 
  • An on-line test strategy and analysis for a 1T1R crossbar memory

     Escudero, M.; Moll, F.; Rubio, A.; Vourkas, I.
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
    p. 120-125
    DOI: 10.1109/IOLTS.2017.8046206
    Data de presentació: 2017-07-05
    Presentació treball a congrés
  • Reliability issues in RRAM ternary memories affected by variability and aging mechanisms

     Rubio, A.; Escudero, M.; Pouyan, P.
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
    p. 90-92
    DOI: https://doi.org/10.1109/IOLTS.2017.8046238
    Data de presentació: 2017-07-04
    Presentació treball a congrés
  • Statistical characterization and modeling of random telegraph noise effects in 65nm SRAM cells

     Martinez, J.; Rodriguez, R.; Nafria, M.; Torrents, G.; Bota, S.A.; Segura, J.; Moll, F.; Rubio, A.
    International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/SMACD.2017.7981610
    Data de presentació: 2017-06-15
    Presentació treball a congrés
  • Crossbar-based memristive logic-in-memory architecture  Accés obert

     Papandroulikadis, G.; Vourkas, I.; Abustelema, A.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    IEEE transactions on nanotechnology
    Vol. 16, num. 3, p. 491-501
    DOI: 10.1109/TNANO.2017.2691713
    Data de publicació: 2017-04-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Resistive random access memory variability and its mitigation schemes

     Pouman, P.; Amat, E.; Hamdioui, S.; Rubio, A.
    Journal of low power electronics
    Vol. 13, num. 1, p. 124-134
    DOI: 10.1166/jolpe.2017.1464
    Data de publicació: 2017-03-01
    Article en revista
  • Statistical analysis and comparison of 2T and 3T1D e-DRAM minimum energy operation  Accés obert

     Rana, M.; Canal, R.; Amat, E.; Rubio, A.
    IEEE transactions on device and materials reliability
    Vol. 17, num. 1, p. 42-51
    DOI: 10.1109/TDMR.2017.2667619
    Data de publicació: 2017-03-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Exploring the voltage divider approach for accurate memristor state tuning

     Vourkas, I.; Gomez, J.; Abusleme, A.; Vasileiadis, N.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    Latin American Symposium on Circuits and Systems
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/LASCAS.2017.7948043
    Data de presentació: 2017-02-20
    Presentació treball a congrés
  • Dispositivos, circuitos y arquitecturas fiables y de bajo consumo para IoT.

     Rubio, A.; Moll, F.; Calomarde, A.; Altet, J.; Aragones, X.; Mateo, D.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Experience on material implication computing with an electromechanical memristor emulator  Accés obert

     Rubio, A.; Moll, F.; Escudero, M.; Zuin, S.; Vourkas, I.; Sirakoulis, G.
    IEEE Symposium Series on Computational Intelligence
    p. 170-175
    DOI: 10.1109/SSCI.2016.7850154
    Data de presentació: 2016-12-08
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • An experience with chalcogenide memristors, and implications on memory and computer applications

     Escudero, M.; Amat, E.; Rubio, A.; Pouman, P.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 46-50
    DOI: 10.1109/DCIS.2016.7845387
    Data de presentació: 2016-11-23
    Presentació treball a congrés
  • RRAM variability and its mitigation schemes  Accés obert

     Pouman, P.; Amat, E.; Hamdioui, S.; Rubio, A.
    International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation
    p. 141-146
    DOI: 10.1109/PATMOS.2016.7833679
    Data de presentació: 2016-09-22
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Active charge collection strategy for radiation environment at device level

     Calomarde, A.; Amat, E.; Rubio, A.; Moll, F.; Gamiz, F.
    Radiation Effects on Components & Systems
    DOI: 10.1109/RADECS.2016.8093155
    Data de presentació: 2016-09-21
    Presentació treball a congrés
  • 1-D memristor networks as ternary storage cells

     Vourkas, I.; Abusleme, A.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    International Workshop on Cellular Nanoscale Networks and their Applications
    p. 101-102
    Data de presentació: 2016-08-24
    Presentació treball a congrés
  • Temperature sensors and measurements to test analogue circuits: questions and answers

     Altet, J.; Rubio, A.; Reverter, F.; Perpiñà, X.; Aragones, X.; Jordà, X.; Vellvehi, M.; Mateo, D.
    International Mixed-Signal Testing Workshop
    p. 1-5
    DOI: 10.1109/IMS3TW.2016.7524241
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
  • A digital memristor emulator for FPGA-based artificial neural networks

     Vourkas, I.; Abusleme, A.; Ntinas, V.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    IEEE International Verification and Security Workshop
    p. 54-57
    DOI: 10.1109/IVSW.2016.7566607
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
  • Statistical analysis and comparison of 2T and 3T1D e-DRAM minimum energy operation  Accés obert

     Rana, M.; Canal, R.; Amat, Esteve; Rubio, A.
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
    p. 33-38
    DOI: 10.1109/IOLTS.2016.7604667
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Memristive crossbar memory lifetime evaluation and reconfiguration strategies  Accés obert

     Pouman, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    IEEE Transactions on emerging topics in computing
    DOI: 10.1109/TETC.2016.2581700
    Data de publicació: 2016-06-20
    Article en revista
  • Monitoring SRAM BTI degradation by current-based tracking technique

     Pouyan, P.; Amat, Esteve; Rubio, A.
    International New Circuits and Systems Conference
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/NEWCAS.2016.7604766
    Data de presentació: 2016-06
    Presentació treball a congrés
  • Feasibility of Embedded DRAM Cells on FinFET Technology

     Amat, Esteve; Calomarde, A.; Moll, F.; Canal, R.; Rubio, A.
    IEEE transactions on computers
    Vol. 65, num. 4, p. 1068-1074
    DOI: 10.1109/TC.2014.2375204
    Data de publicació: 2016-04-01
    Article en revista
  • Metodología de diseño lógico redundante para escenarios con ruido extremadamente alto y bajo voltaje de alimentación  Accés obert

     García, L.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • Robust sequential circuits design technique for low voltage and high noise scenarios  Accés obert

     García, L.; Rivera, J.; Calomarde, A.; Moll, F.; Rubio, A.
    International Conference on Control, Mechatronics and Automation
    p. 1-4
    DOI: 10.1051/matecconf/20164202003
    Data de presentació: 2016
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Reliability-Aware Memory Design Using Advanced Reconfiguration Mechanisms  Accés obert

     Pouyan, P.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • Insights to memristive memory cell from a reliability perspective  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    International Conference on Memristive Systems
    p. 1-2
    DOI: 10.1109/MEMRISYS.2015.7378382
    Data de presentació: 2015-11
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Heterogeneous memristive crossbar for in-memory computing  Accés obert

     Papandroulidakis, G.; Vourkas, I.; Sirakoulis, G.; Rubio, A.
    International Conference on Memristive Systems
    p. 1-2
    DOI: 10.1109/MEMRISYS.2015.7378388
    Data de presentació: 2015-11
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Adaptive Proactive Reconfiguration: A Technique for Process-Variability-and Aging-Aware SRAM Cache Design  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, Esteve; Rubio, A.
    IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
    Vol. 23, num. 9, p. 1951-1955
    DOI: 10.1109/TVLSI.2014.2355873
    Data de publicació: 2015-09-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Memristive crossbar design and test in non-adaptive proactive reconfiguring scheme

     Pouyan, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    European Conference on Circuit Theory and Design
    DOI: 10.1109/ECCTD.2015.7300125
    Data de presentació: 2015-08-25
    Presentació treball a congrés
  • Statistical lifetime analysis of memristive crossbar matrix  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127378
    Data de presentació: 2015-04-22
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Variability and reliability analysis of CNFET technology: impact of manufacturing imperfections  Accés obert

     Almudever, C.G.; Rubio, A.
    Microelectronics reliability
    Vol. 55, num. 2, p. 358-366
    DOI: 10.1016/j.microrel.2014.11.011
    Data de publicació: 2015-02-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Statistical lifetime analysis in memristive crossbar  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, Esteve; Rubio, A.
    Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Characterization of random telegraph noise and its impact on reliability of SRAM sense amplifiers  Accés obert

     Martin, J.; Diaz, J.; Rodríguez, R.; Nafría, M.; Aymerich , X.; Roca, E.; Fernández, F.; Rubio, A.
    European Workshop on CMOS Variability
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/VARI.2014.6957088
    Data de presentació: 2014-10-29
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Reliability challenges in design of memristive memories  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, E.; Rubio, A.
    European Workshop on CMOS Variability
    DOI: 10.1109/VARI.2014.6957074
    Data de presentació: 2014-10-29
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Suitability of the FinFET 3T1D cell beyond 10 nm

     Amat, Esteve; Garcia, C.; Aymerich, N.; Canal, R.; Rubio, A.
    IEEE transactions on nanotechnology
    Vol. 13, num. 5, p. 926-932
    DOI: 10.1109/TNANO.2014.2332180
    Data de publicació: 2014-09-01
    Article en revista
  • Variability and Reliability Analysis of Carbon Nanotube Technology in the Presence of Manufacturing Imperfections  Accés obert

     Garcia, C.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • A shapeshifting evolvable hardware mechanism based on reconfigurable memFETs crossbar architecture

     Martin, J.; Garcia, C.; Crespo, A.; Rodríguez, R.; Nafría, M.; Rubio, A.
    Microelectronics reliability
    DOI: 10.1016/j.microrel.2014.03.020
    Data de publicació: 2014-05-05
    Article en revista
  • Reliability and performance tunable architecture: the partially Asynchronous R-Fold Modular Redundancy (pA-RMR)

     Aymerich, N.; Rubio, A.
    IEEE transactions on nanotechnology
    Vol. 13, num. 3, p. 617-622
    DOI: 10.1109/TNANO.2014.2315292
    Data de publicació: 2014-05-01
    Article en revista
  • Reliability in the face of variability in nanometer embedded memories  Accés obert

     Ganapathy, S.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • SET and noise fault tolerant circuit design techniques: application to 7 nm FinFET  Accés obert

     Calomarde, A.; Amat, Esteve; Moll, F.; Vigara, J.; Rubio, A.
    Microelectronics reliability
    Vol. 54, num. 4, p. 738-745
    DOI: 10.1016/j.microrel.2013.12.018
    Data de publicació: 2014-04-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • INFORMER: an integrated framework for early-stage memory robustness analysis

     Ganapathy, S.; Canal, R.; Alexandrescu, D.; Costenaro, E.; Gonzalez, A.; Rubio, A.
    Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
    p. 1-4
    DOI: 10.7873/DATE2014.046
    Data de presentació: 2014-03-24
    Presentació treball a congrés
  • CNFET Performance: Carbon nanotube growth process imperfections

     Garcia, C.; Rubio, A.
    DOI: 10.1081/E-ENN2-120048659
    Data de publicació: 2014-03-01
    Capítol de llibre
    Imatge
  • Impact of adaptive proactive reconfiguration technique on Vmin and lifetime of SRAM caches  Accés obert

     Pouyan, P.; Amat, Esteve; Barajas, E.; Rubio, A.
    International Symposium on Quality Electronic Design
    p. 32-38
    DOI: 10.1109/ISQED.2014.6783303
    Data de presentació: 2014-03
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Aproximación multinivel al diseño orientado a la fiabilidad de circuitos integrados analógicos y digitales

     Rubio, A.; Mateo, D.; Moll, F.; Aragones, X.; Altet, J.; Reverter, F.; Calomarde, A.; Nunes, D.; Perez, J.; Pouyan, P.
    Projecte R+D+I competitiu
  • Variability impact on on-chip memory data paths  Accés obert

     Amat, Esteve; Calomarde, A.; Canal, R.; Rubio, A.
    European Workshop on CMOS Variability
    DOI: 10.1109/VARI.2014.6957086
    Data de presentació: 2014
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • iRMW: A low-cost technique to reduce NBTI-dependent parametric failures in L1 data caches  Accés obert

     Ganapathy, S.; Canal, R.; Gonzalez, A.; Rubio, A.
    IEEE International Conference on Computer Design
    p. 68-74
    DOI: 10.1109/ICCD.2014.6974664
    Data de presentació: 2014
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Variability-aware Architectures based on Hardware Redundancy for Nanoscale Reliable Computation  Accés obert  Activitat premiada

     Aymerich, N.
    Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
    Tesi doctoral
    Accés al text complet
  • Impact of finfet and III-V/Ge technology on logic and memory cell behavior

     Amat, E.; Calomarde, A.; Garcia, C.; Aymerich, N.; Canal, R.; Rubio, A.
    IEEE transactions on device and materials reliability
    Vol. 14, num. 1, p. 1-15
    DOI: 10.1109/TDMR.2013.2291410
    Data de publicació: 2013-11-20
    Article en revista
  • Guest editors' introduction: special issue on variability and aging

     Rubio, A.; Gonzalez, A.
    IEEE design & test
    Vol. 30, num. 6, p. 5-7
    DOI: 10.1109/MDAT.2013.2297040
    Data de publicació: 2013-11-01
    Article en revista
  • Controlled degradation stochastic resonance in adaptive averaging cell-based architectures

     Aymerich, N.; Cotofana, S.; Rubio, A.
    IEEE transactions on nanotechnology
    Vol. 12, num. 6, p. 888-896
    DOI: 10.1109/TNANO.2013.2270301
    Data de publicació: 2013-11
    Article en revista
  • Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies  Accés obert

     Amat, Esteve; Amatlle, E.; Gómez, S.; Aymerich, N.; Garcia, C.; Moll, F.; Rubio, A.
    Microelectronics journal
    Vol. 44, num. 9, p. 787-793
    DOI: 10.1016/j.mejo.2013.06.010
    Data de publicació: 2013-09
    Article en revista
    Accés al text complet
  • A single event transient hardening circuit design technique based on strengthening

     Calomarde, A.; Amat, Esteve; Moll, F.; Rubio, A.
    International Midwest Symposium on Circuits and Systems
    p. 821-824
    DOI: 10.1109/MWSCAS.2013.6674775
    Data de presentació: 2013-08-06
    Presentació treball a congrés
  • Variability robustness enhancement for 7nm FinFET 3T1D-DRAM cells

     Amat, Esteve; Garcia, C.; Aymerich, N.; Rubio, A.; Canal, R.
    International Midwest Symposium on Circuits and Systems
    p. 81-84
    DOI: 10.1109/MWSCAS.2013.6674590
    Data de presentació: 2013-08-05
    Presentació treball a congrés