Vés al contingut (premeu Retorn)

Producció científica

1 a 28 de 28 resultats
 
  • Efficient production binning using octree tessellation in the alternate measurements space  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
    Vol. 35, num. 8, p. 1386-1395
    DOI: 10.1109/TCAD.2015.2501309
    Data de publicació: 2016-08-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Best PhD Student Paper Award

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • Improving indirect test efficiency using multi-directional tessellations in the measure space

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Mixed-Signal Testing Workshop
    p. 1-6
    DOI: 10.1109/IMS3TW.2016.7524230
    Data de presentació: 2016-07
    Presentació treball a congrés
  • Best Paper Award Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS2015)

     Álvaro Gómez-Pau; Lupon, E.; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • Adaptive test system applied to the generation of mixed-signal signatures

     Álvaro Gómez-Pau; Lupon, E.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 7-
    Data de presentació: 2015-11-25
    Presentació treball a congrés
  • Mixed-Signal Circuits Testing Using Digitally Coded Indirect Measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2015-11-25
    Presentació treball a congrés
  • Mixed-signal test band guarding using digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design
    p. 1-4
    DOI: 10.1109/SMACD.2015.7301708
    Data de presentació: 2015-09-09
    Presentació treball a congrés
  • Diagnosis of parametric defects in dual axis IC accelerometers

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Microsystem technologies-Micro-and nanosystems-Information storage and processing
    Vol. 21, num. 9, p. 1855-1866
    DOI: 10.1007/s00542-014-2218-4
    Data de publicació: 2015-09-01
    Article en revista
  • Analog circuits testing using digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
    p. 57-62
    DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127357
    Presentació treball a congrés
  • An efficient behavioral description frontend tool for mixed-mode SPICE simulation  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.; Chatterjee, A.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Quality metrics for mixed-signal indirect testing  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-11-26
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Error resilient real-time state variable systems signal processing and control

     Banerjee, S.; Álvaro Gómez-Pau; Chatterjee, A.; Abraham, J.
    Asian Test Symposium
    p. 39-44
    DOI: 10.1109/ATS.2014.19
    Data de presentació: 2014-11-17
    Presentació treball a congrés
  • Real-time transient error and induced noise cancellation in linear analog filters using learning-assisted adaptive analog checksums

     Álvaro Gómez-Pau; Banerjee, S.; Chatterjee, A.
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
    p. 25-30
    DOI: 10.1109/IOLTS.2014.6873667
    Data de presentació: 2014-07
    Presentació treball a congrés
  • Criteria for indirect measurements in M-S testing

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Workshop on Statistical Test Methods
    p. 1-6
    Data de presentació: 2014-05-30
    Presentació treball a congrés
  • M-S specification binning based on digitally coded indirect measurements

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 105-110
    Data de presentació: 2014-05-28
    Presentació treball a congrés
  • Design of low cost fault tolerant analog circuits using real-time learned error compensation

     Banerjee, S.; Álvaro Gómez-Pau; Chatterjee, A.
    IEEE European Test Symposium
    p. 229-230
    Data de presentació: 2014-05-27
    Presentació treball a congrés
  • Candidate Best Paper Award in Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS2014)

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Premi o reconeixement
  • SRAM cell stability metric under transient voltage noise

     Vatajelu, E. I.; Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.
    Microelectronics journal
    Vol. 45, num. 10, p. 1348-1353
    DOI: 10.1016/j.mejo.2013.11.005
    Data de publicació: 2013-12-20
    Article en revista
  • Test of dual axis accelerometers based on specifications compliance  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2013-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • M-S test based on specification validation using octrees in the measure space

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    IEEE European Test Symposium
    p. 70-75
    DOI: 10.1109/ETS.2013.6569359
    Data de presentació: 2013-05-28
    Presentació treball a congrés
  • Nondestructive diagnosis of mechanical misalignments in dual axis accelerometers

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS
    Data de presentació: 2013-04-18
    Presentació treball a congrés
  • SRAM stability metric under transient noise  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    Data de presentació: 2012-11-30
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 223-228
    Data de presentació: 2012-11-28
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet
  • Testing dual axis IC accelerometers using Lissajous compositions

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 1-4
    Data de presentació: 2011-11-17
    Presentació treball a congrés
  • Testing IC accelerometers using Lissajous compositions

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Perspective Technologies and Methods in MEMS Design
    p. 75-81
    Data de presentació: 2011-05-11
    Presentació treball a congrés
  • Transient noise failures in SRAM cells : dynamic noise margin metric

     Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.; Vatajelu, E. I.
    Asian Test Symposium
    p. 413-418
    DOI: 10.1109/ATS.2011.64
    Data de presentació: 2011
    Presentació treball a congrés
  • Identification of component deviations in analog circuits using digital signatures

     Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
    Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
    p. 187-192
    Data de presentació: 2010-11-17
    Presentació treball a congrés
  • Analog circuit test based on a digital signature  Accés obert

     Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
    Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition
    p. 1641-1644
    Data de presentació: 2010-03-08
    Presentació treball a congrés
    Accés al text complet