Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Algorithms and Methodologies for lnterconnect Reliability Analysis of lntegrated Circuits

Tipus d'activitat
Tesi doctoral
Altres unitats relacionades
Departament de Ciències de la Computació
Data de la defensa
2017-05-05
Resum
L'espectacular progrés dels dispositius de càlcul ha estat possible en gran part als esforços de la indústria dels semiconductors en proposar tècniques innovadores per circuits d'una alta escala d'integració. Els circuits integrats contenen milers de mil.lions d'interconnexions que permeten connectar transistors dins d'un espai de pocs mm2. Tots aquests components estan afectats per camps elèctrics, impureses i defectes durant la seva fabricació. Degut a l¿activitat a nivell de Gigahert...
Grup de recerca
ALBCOM - Algorismia, Bioinformàtica, Complexitat i Mètodes Formals

Participants