Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Analysis of the Extra Delay on Interconnects Caused by Resistive Opens and Shorts

Autor
Maqueda, P.; JOSEP, R.; Rius, J.
Tipus d'activitat
Presentació treball a congrés
Nom de l'edició
15th IEEE International On-Line Testing Symposium
Any de l'edició
2009
Llibre d'actes
Proceedings of the 2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium
Pàgina inicial
208
Pàgina final
209
Grup de recerca
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants

  • Maqueda Castellote, Pablo  (autor ponent)
  • JOSEP, RIUS  (autor ponent)
  • Rius Vazquez, Jose  (autor ponent)