Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Analisis de la testabilidad por corriente y tension de circuitos integrados analogicos en tecnologia cmos

Autor
Segura, J.; ROCA, M.; Mateo, D.; Rubio, A.
Tipus d'activitat
Presentació treball a congrés
Nom de l'edició
X Congreso de Diseño de Circuitos Integrados y Sistemas
Any de l'edició
1995
Llibre d'actes
Actas del X Congreso de Diseño de Circuitos Integrados y Sistemas
Pàgina inicial
42
Pàgina final
46
Grup de recerca
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Participants