Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

The use of analytical peak profile functions to fit diffraction data of planar faulted layer crystals

Autor
Estévez-Rams, E.; Penton, A.; Martinez, J.; Fuess, H.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Crystal research and technology
Data de publicació
2005-01-01
Volum
40
Número
1/2
Pàgina inicial
166
Pàgina final
176
DOI
https://doi.org/10.1002/crat.200410320 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
GCM - Grup de Caracterització de Materials

Participants

  • Estévez Rams, E.  (autor)
  • Penton, A.  (autor)
  • Martínez García, Julio César  (autor)
  • Fuess, H.  (autor)