Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

IEEE transactions on electromagnetic compatibility

Total activitats: 17
Títol addicional
IEEE Xplore
ISSN
0018-9375 Obrir en finestra nova
Publicació / Producció
New York, NY : Antennas and Propagation Society of the Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1988-
URL
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=15 Obrir en finestra nova

Producció científica

1 a 17 de 17 resultats
 
  • SIVA UAV: a case study for the EMC analysis of composite air vehicles  Accés obert

     Cabello, M.; Vallina Fernández, Sergio Manuel; Pous, M.; Pascual, E.; Angulo, L.; López, P.; Riu, P.J.; Gutierrez, G.; Mateos, D.; Poyatos, D.; Fernandez, M.; Alvarez, J.; Pantoja, M.; Añón, M.; Silva, F.; Bretones, A.; Trallero, R.; Nuño-Fernández, L.; Escot, D.; Martin, R.; Garcia, S.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 59, num. 4, p. 1103-1113
    DOI: 10.1109/TEMC.2017.2648507
    Data de publicació: 2017-08-01
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Decomposition of electromagnetic interferences in the time-domain  Accés obert

     Azpurua, M. A.; Pous, M.; Silva, F.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    num. 99, p. 1-8
    DOI: 10.1109/TEMC.2016.2518302
    Data de publicació: 2016-01-26
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Measurement and evaluation techniques to estimate the degradation produced by the radiated transients interference to the GSM system  Accés obert

     Pous, M.; Azpurua, M. A.; Silva, F.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 57, num. 6, p. 1382-1390
    DOI: 10.1109/TEMC.2015.2472983
    Data de publicació: 2015-12
    Article en revista
    Accés al text complet
  • On the statistical properties of the peak detection for time-domain EMI measurements

     Azpurua, M. A.; Pous, M.; Silva, F.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    DOI: 10.1109/TEMC.2015.2456983
    Data de publicació: 2015-07-12
    Article en revista
  • Full-spectrum APD measurement of transient interferences in time domain

     Pous, M.; Silva, F.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 56, num. 6, p. 1352-1360
    DOI: 10.1109/TEMC.2014.2352393
    Data de publicació: 2014-12-01
    Article en revista
  • Characterization and modeling of the conducted emission of integrated circuits up to 3 GHz

     Berbel, N.; Fernandez-Garcia, R.; Gil, I.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 56, num. 4, p. 878-884
    DOI: 10.1109/TEMC.2013.2294256
    Data de publicació: 2014-08-01
    Article en revista
  • A review on the drawbacks and enhancement opportunities of the feature selective validation

     Azpurua, M. A.; Páez, E.; Rojas, J.; Ventosa, O.; Silva, F.; Zhang, G.; Duffy, A.; Jaúregui, R.I.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 56, num. 4, p. 800-807
    DOI: 10.1109/TEMC.2014.2304622
    Data de publicació: 2014-08-01
    Article en revista
  • Application of the feature selective validation method to pattern recognition

     Ventosa, O.; Pous, M.; Silva, F.; Jaúregui, R.I.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 56, num. 4, p. 808-816
    DOI: 10.1109/TEMC.2013.2291494
    Data de publicació: 2014-08-01
    Article en revista
  • Analyzing transient phenomena in the time domain using the Feature Selective Validation (FSV) method

     Jaúregui, R.I.; Zhang, G.; Rojas, J.; Ventosa, O.; Silva, F.; Duffy, A.; Sasse, H.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 56, num. 4, p. 825-834
    DOI: 10.1109/TEMC.2013.2246167
    Data de publicació: 2014-08-01
    Article en revista
  • Experimental Investigations into the Effects of Electrical Stress on Electromagnetic Emission from Integrated Circuits

     Boyer, A.; Dhia, S.; Li, B.; Berbel, N.; Fernandez-Garcia, R.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 56, num. 1, p. 44-50
    DOI: 10.1109/TEMC.2013.2272195
    Data de publicació: 2014-02-01
    Article en revista
  • Improvement in the definition of ODM for FSV

     Zhang, G.; Duffy, A.; Saxe, H.; Wang, L.; Jauregui, R.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 55, num. 4, p. 773-779
    DOI: 10.1109/TEMC.2012.2231416
    Data de publicació: 2012-12-25
    Article en revista
  • The Role of uncertainty in the feature selective validation (FSV) method

     Jauregui, R.; Aragon, M.; Silva, F.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 55, num. 1, p. 217-220
    DOI: 10.1109/TEMC.2012.2227262
    Data de publicació: 2012-11-27
    Article en revista
  • A Near-Field Probe for In Situ EMI Measurements of Industrial Installations

     Quilez, M.; Atienza, A.; Fernández-Chimeno, M.; Fernandez, M.; Riu, P.J.; Silva, F.; Aragon, M.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 50, num. 4, p. 1007-
    Data de publicació: 2008-11
    Article en revista
  • EMI susceptibility model of signal conditioning circuits based on operational amplifiers

     Gago, J.; Balcells, J.; Gonzalez, D.; Lamich, M.; Mon, J.; Santolaria, A.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 49, num. 4, p. 849-859
    DOI: 10.1109/TEMC.2007.908845
    Data de publicació: 2007-11
    Article en revista
  • EMI Reduction in Switched Power Converters Using Frequency Modulation Techniques

     Balcells, J.; Santolaria, A.; Orlandi, A.; Gonzalez, D.; Gago, J.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 47, num. 3, p. 569-576
    Data de publicació: 2005-08
    Article en revista
  • Crosstalk effects between metal and polysilicon lines in cmos ics

     Roca, M.; Moll, F.; Rubio, A.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 36, num. 3, p. 250-252
    Data de publicació: 1994-08
    Article en revista
  • Analysis of crosstalk interference in cmos integrated circuits

     Rubio, A.
    IEEE transactions on electromagnetic compatibility
    Vol. 34, num. 2, p. 124-130
    Data de publicació: 1992-05
    Article en revista