Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Microelectronics journal

Total activitats: 22
Títol addicional
ScienceDirect e-journals
ISSN
0026-2692 Obrir en finestra nova
Publicació / Producció
New York, NY : Elsevier Science Pub. Co., [199?]-
URL
https://www.sciencedirect.com/science/journal/00262692 Obrir en finestra nova

Producció científica

1 a 22 de 22 resultats
 
  • Defending cache memory against cold-boot attacks boosted by power or EM radiation analysis

     Neagu, M.; Manich, S.
    Microelectronics journal
    Vol. 62, p. 85-98
    DOI: 10.1016/j.mejo.2017.02.010
    Data de publicació: 2017-04
    Article en revista
  • Strategies to enhance the 3T1D-DRAM cell variability robustness beyond 22 nm

     Amat, Esteve; Garcia, C.; Aymerich, N.; Canal, R.; Rubio, A.
    Microelectronics journal
    Vol. 45, num. 10, p. 1342-1347
    DOI: 10.1016/j.mejo.2013.12.001
    Data de publicació: 2014-10-01
    Article en revista
  • Electro-thermal characterization of a differential temperature sensor in a 65 nm CMOS IC: Applications to gain monitoring in RF amplifiers

     Altet, J.; Gonzalez, J.; Gómez, D.; Perpiñà, X.; Claeys, W.; Grauby, S.; Dufis, C.; Vellvehi, M.; Mateo, D.; Reverter, F.; Dilhaire, S.; Jordà, X.
    Microelectronics journal
    Vol. 45, num. 5, p. 484-490
    DOI: 10.1016/j.mejo.2014.02.009
    Data de publicació: 2014-05-01
    Article en revista
  • SRAM cell stability metric under transient voltage noise

     Vatajelu, E. I.; Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.
    Microelectronics journal
    Vol. 45, num. 10, p. 1348-1353
    DOI: 10.1016/j.mejo.2013.11.005
    Data de publicació: 2013-12-20
    Article en revista
  • Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies  Accés obert

     Amat, Esteve; Amatlle, E.; Gómez, S.; Aymerich, N.; Garcia, C.; Moll, F.; Rubio, A.
    Microelectronics journal
    Vol. 44, num. 9, p. 787-793
    DOI: 10.1016/j.mejo.2013.06.010
    Data de publicació: 2013-09
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Inductor shielding strategies to protect mmW LC-VCOs from high frequency substrate noise

     Molina, M.; Aragones, X.; Mateo, D.; Gonzalez, J.
    Microelectronics journal
    Vol. 44, num. 5, p. 405-413
    DOI: 10.1016/j.mejo.2013.02.010
    Data de publicació: 2013-05-01
    Article en revista
  • Electro-thermal coupling analysis methodology for RF circuits

     Gómez, D.; Dufis, C.; Altet, J.; Mateo, D.; Gonzalez, J.
    Microelectronics journal
    Vol. 43, num. 9, p. 633-641
    DOI: 10.1016/j.mejo.2011.04.011
    Data de publicació: 2012-09
    Article en revista
  • On the electrical properties of slotted metallic planes in CMOS processes for RF and millimeter-wave applications

     Gonzalez, J.; Martineau, B.; Belot, D.
    Microelectronics journal
    Vol. 43, num. 8, p. 582-591
    DOI: 10.1016/j.mejo.2012.04.003
    Data de publicació: 2012-05-17
    Article en revista
  • Prediction of the impact of substrate coupled switching noise on frequency synthesizers

     Osorio, J.; Aragones, X.
    Microelectronics journal
    Vol. 43, num. 3, p. 216-224
    DOI: 10.1016/j.mejo.2011.12.003
    Data de publicació: 2012-03-01
    Article en revista
  • A small-area inductorless configurable wideband LNA with high dynamic range

     Trulls, X.; Mateo, D.; Bofill, A.
    Microelectronics journal
    Vol. 43, num. 3, p. 198-204
    DOI: 10.1016/j.mejo.2011.12.005
    Data de publicació: 2012-03
    Article en revista
  • New redundant logic design concept for high noise and low voltage scenarios

     García, L.; Andrade, D.; Gomez, S.; Calomarde, A.; Moll, F.; Rubio, A.
    Microelectronics journal
    Vol. 42, num. 12, p. 1359-1369
    DOI: 10.1016/j.mejo.2011.09.007
    Data de publicació: 2011-12
    Article en revista
  • One-dimensional modeling of TE devices considering temperature-dependent parameters using SPICE

     Mitrani, D.; Salazar, J.; Turo, A.; Garcia, M.; Chavez-Dominguez, J. A.
    Microelectronics journal
    Vol. 40, num. 9, p. 1398-1405
    DOI: 10.1016/j.mejo.2008.04.001
    Data de publicació: 2009-09
    Article en revista
  • Transient distributed parameter electrical analogous model of TE devices

     Mitrani, D.; Salazar, J.; Turo, A.; Garcia, M.; Chavez-Dominguez, J. A.
    Microelectronics journal
    Vol. 40, num. 9, p. 1406-1410
    DOI: 10.1016/j.mejo.2008.06.038
    Data de publicació: 2009-09
    Article en revista
  • A new compensation mechanism for environmental parameter fluctuations in CMOS digital ICs

     Andrade, D.; Martorell, F.; Calomarde, A.; Moll, F.; Rubio, A.
    Microelectronics journal
    Vol. 40, num. 6, p. 952-957
    DOI: 10.1016/j.mejo.2009.01.002
    Data de publicació: 2009-06
    Article en revista
  • Cell architecture for nanoelectronic design

     Martorell, F.; Rubio, A.
    Microelectronics journal
    Vol. 39, num. 8, p. 1041-1050
    Data de publicació: 2008-08
    Article en revista
  • Manufacturing and full characterization of silicon carbide-based multi-sensor micro-probes for biomedical applications

     Gabriel Buguña, Gemma; Erill, I.; Caro, J.; Gomez, R.; Riera, M.; Villa, R.; Godignon, P.
    Microelectronics journal
    Vol. 38, num. 3, p. 406-415
    DOI: 10.1016/j.mejo.2006.11.008
    Data de publicació: 2007-03
    Article en revista
  • Electrical characterization of analogue and RF integrated circuits by thermal measurements

     Mateo, D.; Altet, J.; Aldrete-Vidrio, E.; Aldrete, H.E.
    Microelectronics journal
    Vol. 38, num. 2, p. 151-156
    Data de publicació: 2007-02
    Article en revista
  • An investigation on the relation between digital circuitry characteristics and power supply noise spectrum in mixed-signal CMOS integrated circuits

     Méndez, M.; Gonzalez, J.; Mateo, D.; Rubio, A.
    Microelectronics journal
    Vol. 36, num. 1, p. 77-84
    Data de publicació: 2005-01
    Article en revista
  • A physical-based noise macromodel for fast simulation of switching noise generation

     Elvira, L.; Martorell, F.; Aragones, X.; Gonzalez, J.
    Microelectronics journal
    Vol. 35, num. 0, p. 677-684
    Data de publicació: 2004-05
    Article en revista
  • Analysis of dissipation energy of switching digital CMOS gates with coupled outputs

     Moll, F.; Roca, M.; Isern, E.
    Microelectronics journal
    Vol. 34, num. 9, p. 833-842
    DOI: 10.1016/S0026-2692(03)00133-2
    Data de publicació: 2003-09
    Article en revista
  • Four different approaches for the measurement of IC surface temperature: Application to thermal testing

     Altet, J.; Dilhaire, S.; Volz, S.; Rampnoux, J.; Rubio, A.; Grauby, S.; Patino, L.; Claeys, W.; Saulnier, J.
    Microelectronics journal
    Vol. 33, p. 689-696
    Data de publicació: 2002-09
    Article en revista
  • Simulation of flow sensors for home appliances

     Jimenez, V.; Masana, F.; Dominguez, M.; Castañer, L.
    Microelectronics journal
    Vol. 29, num. 4-5, p. 283-289
    DOI: 10.1016/S0026-2692(97)00068-2
    Data de publicació: 1998-04
    Article en revista