Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Integration. The VLSI journal

Total activitats: 11
Títol addicional
ScienceDirect e-journals
ISSN
0167-9260 Obrir en finestra nova
Publicació / Producció
New York, NY : Elsevier Science, 1982-
URL
https://www.sciencedirect.com/science/journal/01679260 Obrir en finestra nova

Producció científica

1 a 11 de 11 resultats
 
  • Indirect test of M-S circuits using multiple specification band guarding

     Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 55, p. 415-424
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2016.04.007
    Data de publicació: 2016-09-01
    Article en revista
  • Active inductor-based tunable impedance matching network for RF power amplifier application  Accés obert

     Saberkari, A.; Ziabakhsh, S.; Martinez, H.; Alarcon, E.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 52, p. 301-308
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2015.07.013
    Data de publicació: 2015-08
    Article en revista
    Accés al text complet
  • High slew rate current mode transconductance error amplifier for low quiescent current output–capacitorless CMOS LDO regulator

     Fathipour, R.; Saberkari, A.; Martinez, H.; Alarcon, E.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 47, num. 2, p. 204-212
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2013.10.005
    Data de publicació: 2014
    Article en revista
  • High slew rate current mode transconductance error amplifier for low quiescent current output-capacitorless CMOS LDO regulator

     Fathipour, R.; Saberkari, A.; Martinez, H.; Alarcon, E.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 47, num. 2, p. 204-210
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2013.10.005
    Data de publicació: 2013-11-08
    Article en revista
  • Fast transient current-steering CMOS LDO regulator based on current feedback amplifier

     Saberkari, A.; Alarcon, E.; Shokouhi, S.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 46, num. 2, p. 165-171
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2012.02.001
    Data de publicació: 2013-03
    Article en revista
  • Circuit design of a dual-versioning L1 data cache

     Seyedi, A.; Armejach, A.; Cristal, A.; Unsal, O.; Hur, I.; Valero, M.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 45, num. 3, p. 237-245
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2011.11.015
    Data de publicació: 2012-06
    Article en revista
  • Impact of positive bias temperature instability (PBTI) on 3T1D-DRAM cells

     Aymerich, N.; Ganapathy, S.; Rubio, A.; Canal, R.; Gonzalez, A.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 45, num. 3, p. 246-252
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2011.11.014
    Data de publicació: 2012-06
    Article en revista
  • Low-power current-reused RF front-end based on optimized transformers topology  Accés obert

     Gil, I.; Cairo, J-I.; Sieiro Córdoba, Javier José; López-Villegas, J.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 43, num. 2, p. 230-236
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2009.10.001
    Data de publicació: 2010-04
    Article en revista
    Accés al text complet
  • Delay caused by resistive opens in interconnecting lines

     Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 42, num. 3, p. 286-293
    DOI: 10.1016/j.vlsi.2008.11.001
    Data de publicació: 2009-06
    Article en revista
  • Adaptable I/O PAD for multiple voltage units bus operation

     Sainz, J.; Rubio, A.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 36, p. 83-86
    Data de publicació: 2003-09
    Article en revista
  • IDDQ testing: state of the art and future trends

     Ferre, A.; Isern, E.; Rius, J.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
    Integration. The VLSI journal
    Vol. 26, num. 1-2, p. 167-196
    DOI: 10.1016/S0167-9260(98)00027-3
    Data de publicació: 1998-12
    Article en revista