Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Analog and Digital Circuit Functionality Under the Influence of Gate Oxide Degradation and Breakdown

Autor
Fernandez-Garcia, R.; Porti, M.; Rodríguez, R.; Nafría, M.; Aymerich , X.
Tipus d'activitat
Capítol de llibre
Llibre
MOSFETs: Properties, Preparations and Performance
Pàgina inicial
125
Pàgina final
139
Editorial
Nova Science Publishers
Data de publicació
2008-01
ISBN
978-1-60456-762-5
Grup de recerca
RFEMC - Grup de Radiofreqüència i Compatibilitat Electromagnètica en Xarxes de Comunicacions

Participants

  • Fernández García, Raúl  (autor)
  • Porti Pujal, Marc  (autor)
  • Rodríguez Martínez, Rosana  (autor)
  • Nafría Maqueda, Montserrat  (autor)
  • Aymerich Humet, Xavier  (autor)