Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences

Autor
Li, B.; Berbel, N.; Boyer, A.; BenDhia, S.; Fernandez-Garcia, R.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronics reliability
Data de publicació
2011-10
Volum
51
Número
9-11
Pàgina inicial
1557
Pàgina final
1560
DOI
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2011.06.010 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
PERC-UPC - Centre de Recerca d'Electrònica de Potència UPC
TIEG - Terrassa Industrial Electronics Group

Participants