Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Measurement of diffusion length in CuInSe2 and CdS by the electron beam induced current method

Autor
Piekoszewski, J.; Castañer, L.; Loferski, J.; Giriat, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Journal of applied physics
Data de publicació
1980-01
Volum
51
Número
10
Pàgina inicial
5375
Pàgina final
5379
Grup de recerca
MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies

Participants