Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

On High-Quality, Low Energy Built-In Self Test Preparation at RT-Level

Autor
Manich, S.; Balado, L.; Figueras, J.; Santos, M.; Teixeira, I.; Teixeira, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Journal of electronic testing. Theory and applications
Data de publicació
2004-08
Volum
20
Número
4
Pàgina inicial
345
Pàgina final
355
DOI
https://doi.org/10.1023/B:JETT.0000039603.89172.2e Obrir en finestra nova
URL
http://www.springerlink.com/content/t620q083437ulgm2/?p=47ab2324f4514a7d97f4cfe5e24e57da&pi=0 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants