Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Approach to the analysis of gate oxide shorts in cmos digital circuits

Autor
Figueras, J.; Rubio, A.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronics reliability
Data de publicació
1992-11
Volum
32
Número
11
Pàgina inicial
1509
Pàgina final
1514
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants