Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Logic testability of defective floating gate cmos latches

Autor
Champac, V.; Figueras, J.; Rubio, A.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Electronics Letters
Data de publicació
1992-12
Volum
28
Número
25
Pàgina inicial
2305
Pàgina final
2306
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants