Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Iddq testing of oscillating bridging faults in cmos combinational circuits

Autor
Rubio, A.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEE proceedings. Part G. Electronic circuits and systems
Data de publicació
1993-02
Volum
140
Número
1
Pàgina inicial
39
Pàgina final
44
Grup de recerca
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Participants