Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Current testability analysis of feedback bridging faults in cmos

Autor
Miquel, R.; Rubio, A.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Data de publicació
1995-10
Volum
14
Número
10
Pàgina inicial
1299
Pàgina final
1305
Grup de recerca
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Participants