Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Bridging defects resistance in the metal layer of cmos process

Autor
Rodríguez-Montañes, R.; Rodriguez-Montanes, R.; Bruls, E.; Figueras, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Journal of electronic testing. Theory and applications
Data de publicació
1996-02
Volum
8
Número
1
Pàgina inicial
35
Pàgina final
46
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants