Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

IDDQ testing: state of the art and future trends

Autor
Ferre, A.; Isern, E.; Rius, J.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Integration. The VLSI journal
Data de publicació
1998-12
Volum
26
Número
1-2
Pàgina inicial
167
Pàgina final
196
DOI
https://doi.org/10.1016/S0167-9260(98)00027-3 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants