Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Resistance characteritzation for weak open defects

Autor
Rodriguez-Montanes, R.; Paul, V.; Pineda, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEEE design and test of computers
Data de publicació
2002-09
Volum
19
Número
5
Pàgina inicial
18
Pàgina final
26
DOI
https://doi.org/10.1109/MDT.2002.1033788 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants