Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Effectiveness of very low voltage testing of bridging defects

Autor
Rodriguez-Montanes, R.; Arumi, D.; Figueras, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Electronics Letters
Data de publicació
2006-09
Volum
42
Número
19
Pàgina inicial
1083
Pàgina final
1084
DOI
https://doi.org/10.1049/el:20061621 Obrir en finestra nova
URL
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/tocresult.jsp?isYear=2006&isnumber=36001&Submit32=Go+To+Issue Obrir en finestra nova
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants