Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

IDDQ-based diagnosis at very low voltage (VLV) for bridging defects

Autor
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.; Lousberg, M.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Electronics Letters
Data de publicació
2007-03
Volum
43
Número
5
Pàgina inicial
25
Pàgina final
26
DOI
https://doi.org/10.1049/el:20073573 Obrir en finestra nova
URL
http://ieeexplore.ieee.org/document/4137468/ Obrir en finestra nova
Resum
Bridging defects generate two currents related to the fault-free case: bridge current and downstream current. The latter may complicate the diagnosis of bridging defects. However, in CMOS technologies, the downstream current can be minimised at low power supply (VDD) values, thus facilitating the diagnosis of such defects. Experimental evidence of this behaviour is presented
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants