Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Quiescent Current Analysis and Experimentation of Defective CMOS Circuits

Autor
Segura, J.; Champac, V.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Rubio, A.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Journal of electronic testing. Theory and applications
Data de publicació
1992-12
Volum
3
Pàgina inicial
51
Pàgina final
62
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants