Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Primary beam address error reduction in e-beam testing of packaged integrated circuits

Autor
Madrenas, J.; Cabestany, J.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronic engineering
Data de publicació
1994-03
Volum
1
Número
24
Pàgina inicial
147
Pàgina final
154
Grup de recerca
AHA - Arquitectures Hardware Avançades
CETpD - Centre d’Estudis Tecnològics per a l’Atenció a la Dependència i la Vida Autònoma

Participants