Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

A new approach to the modeling of oxide breakdwon on CMOS circuits

Autor
Fernandez-Garcia, R.; Rodríguez, R.; Nafría, M.; Aymerich , X.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronics reliability
Data de publicació
2004-01
Volum
44
Número
1
Pàgina inicial
1519
Pàgina final
1522
Grup de recerca
RFEMC - Grup de Radiofreqüència i Compatibilitat Electromagnètica en Xarxes de Comunicacions

Participants

  • Fernández García, Raúl  (autor)
  • Rodríguez Martínez, Rosana  (autor)
  • Nafría Maqueda, Montserrat  (autor)
  • Aymerich Humet, Xavier  (autor)