Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

MOSFET Output Characteristics After Oxide Breakdown

Autor
Fernandez-Garcia, R.; Rodríguez, R.; Nafría, M.; Aymerich , X.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronic engineering
Data de publicació
2007-01
Volum
84
Número
1
Pàgina inicial
31
Pàgina final
37
Grup de recerca
RFEMC - Grup de Radiofreqüència i Compatibilitat Electromagnètica en Xarxes de Comunicacions

Participants

  • Fernández García, Raúl  (autor)
  • Rodríguez Martínez, Rosana  (autor)
  • Nafría Maqueda, Montserrat  (autor)
  • Aymerich Humet, Xavier  (autor)