Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Effect of Oxide Breakdown on RS Latches

Autor
Fernandez-Garcia, R.; Rodríguez, R.; Nafría, M.; Aymerich , X.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronics reliability
Data de publicació
2007-01
Volum
47
Número
1
Pàgina inicial
581
Pàgina final
584
Grup de recerca
RFEMC - Grup de Radiofreqüència i Compatibilitat Electromagnètica en Xarxes de Comunicacions

Participants

  • Fernández García, Raúl  (autor)
  • Rodríguez Martínez, Rosana  (autor)
  • Nafría Maqueda, Montserrat  (autor)
  • Aymerich Humet, Xavier  (autor)