Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide frequency range

Autor
Fernandez-Garcia, R.; Kaczer, B.; Groeseneken, G.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronics reliability
Data de publicació
2009-08
Volum
49
Número
8
Pàgina inicial
885
Pàgina final
891
DOI
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2009.05.009 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
DISEN - Distributed Sensor Networks

Participants