Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Modelling and experimental verification of the impact of negative bias temperature instability on CMOS inverter

Autor
Berbel, N.; Fernandez-Garcia, R.; Gil, I.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
Microelectronics reliability
Data de publicació
2009-11
Volum
49
Número
9-11
Pàgina inicial
1048
Pàgina final
1051
DOI
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2009.06.027 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
PERC-UPC - Centre de Recerca d'Electrònica de Potència UPC
RFEMC - Grup de Radiofreqüència i Compatibilitat Electromagnètica en Xarxes de Comunicacions
SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control

Participants