Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Diagnosis of Interconnect Full Open Defects in the Presence of Fan-Out

Autor
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Data de publicació
2011-12
Volum
30
Número
12
Pàgina inicial
1911
Pàgina final
1922
DOI
https://doi.org/10.1109/TCAD.2011.2165071 Obrir en finestra nova
URL
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6071080i Obrir en finestra nova
Paraules clau
Cmos, Diagnosis, Fault Diagnosis, Interconnect, Open Defect
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants