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Procedimiento para la estimación de caracteristicas eléctricas de un circuito analógico mediante la medición en continua de temperatura

Tipus de propietat
Patent invenció
Número de sol·licitud
P201132099
Data de sol·licitud
2011-12-23
País
Espanya
Entitat titular
Universitat Politècnica de Catalunya
Resum
Procedimiento para la estimación de características eléctricas de un circuito analógico mediante la medición en continua de temperatura.

La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura. La fig. 1 muestra un cristal semiconductor (1) que puede contener diferentes circuitos analógicos (2). Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas de señal (4) y entradas de la tensión de alimentación (3). La polarización del circuito en continua aplicando una tensión a las entradas de alimentación (3), sin aplicar señal a las entradas (4), provoca que los dispositivos que forman el amplificador disipen potencia. Mediciones del incremento de temperatura provocada por esta disipación de potencia en puntos seleccionados del semiconductor (5) permiten obtener características del circuito analógico, tales como, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, ganancia de amplificadores. La medida de la temperatura se realiza en continua y puede hacerse bien mediante sensores de temperatura integrados en el mismo cristal semiconductor, bien mediante sensores externos.
Grup de recerca
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Participants