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Investigadores

1 a 6 de 6 resultados
 
  • Arumi Delgado, Daniel

    Total de actividades: 58
    Departamento de Ingeniería Electrónica
    QINE - Diseño de Bajo Consumo, Test, Verificación y Circuitos Integrados de Seguridad
    Escuela de Ingeniería de Igualada (EEI)
  • Balado Suarez, Luz Maria

    Total de actividades: 125
    Departamento de Ingeniería Electrónica
    QINE - Diseño de Bajo Consumo, Test, Verificación y Circuitos Integrados de Seguridad
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)
  • Figueras Pamies, Juan

    Total de actividades: 320
    Departamento de Ingeniería Electrónica
    QINE - Diseño de Bajo Consumo, Test, Verificación y Circuitos Integrados de Seguridad
    CRnE - Centro de Investigación en Ciencia e Ingeniería Multiescala de Barcelona
  • Lupon Roses, Emilio Jose

    Total de actividades: 93
    Departamento de Ingeniería Electrónica
    QINE - Diseño de Bajo Consumo, Test, Verificación y Circuitos Integrados de Seguridad
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)
  • Manich Bou, Salvador

    Total de actividades: 127
    Departamento de Ingeniería Electrónica
    QINE - Diseño de Bajo Consumo, Test, Verificación y Circuitos Integrados de Seguridad
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)
  • Rodríguez Montañés, Rosa

    Total de actividades: 128
    Departamento de Ingeniería Electrónica
    QINE - Diseño de Bajo Consumo, Test, Verificación y Circuitos Integrados de Seguridad
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)