Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Fault-tolerance capacity of the multilevel active clamped topology

Autor
Nicolas-Apruzzese, J.; Busquets-Monge, S.; Bordonau, J.; Alepuz, S.; Calle, A.
Tipus d'activitat
Presentació treball a congrés
Nom de l'edició
3rd IEEE Energy Conversion Congress and Exposition
Any de l'edició
2011
Data de presentació
2011
Llibre d'actes
IEEE ECCE 2011 proceedings: IEEE Energy Conversion Congress and Exposition: September 17-22, 2011, Hyatt Regency Phoenix, Arizona
Pàgina inicial
3411
Pàgina final
3418
Editor
IEEE
DOI
https://doi.org/10.1109/ECCE.2011.6064230 Obrir en finestra nova
Repositori
http://hdl.handle.net/2117/19159 Obrir en finestra nova
URL
http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=6064230&tag=1 Obrir en finestra nova
Resum
Thanks to the inherent redundancy to generate the different output voltage levels, the multilevel active clamped (MAC) topology presents an important fault-tolerance ability which makes it interesting for several applications. This paper presents an analysis of the fault-tolerance capacity of the MAC converter. Both open-circuit and short-circuit faults are considered and the analysis is carried out under single-device and two-simultaneous-device faults. Switching strategies to overcome the limi...
Citació
Nicolas, J. [et al.]. Fault-tolerance capacity of the multilevel active clamped topology. A: IEEE Energy Conversion Congress and Exposition. "IEEE ECCE 2011 proceedings: IEEE Energy Conversion Congress and Exposition: September 17-22, 2011, Hyatt Regency Phoenix, Arizona". Phoenix, AR: IEEE, 2011, p. 3411-3418.
Paraules clau
CONVERTER
Grup de recerca
GREP - Grup de Recerca en Electrònica de Potència
PERC-UPC - Centre de Recerca d'Electrònica de Potència UPC

Participants